[实用新型]一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统

说明书

本实用新型公开了一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，包括：数字处理单元，连接上位机与频综电路模块，用于解析接收的寄存器参数命令，并下发给频综电路模块；频综电路模块，根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形；频谱仪，被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形；上位机，向频综电路模块输入寄存器配置信息，并获取频谱仪输出波形的波形指标。本实用新型利用上位机接收频谱仪的信号波形信息，判断波形指标是否合格，并手动或自动下发寄存器值，重新更新PLL芯片配置，以达到PLL芯片所需指标，前期有数字处理人员编写好上位机及FPGA程序，后期测试只需射频设计人员调试即可，减少FPGA编译时间，提高了效率。

技术领域

本实用新型涉及电子通信领域，尤其涉及一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统。

背景技术

锁相环（PLL）在无线基站、有线传输网等通信设备，以及雷达、航天、精密测量、计算机、红外、激光、原子能、立体声、马达控制、图像等技术领域上有着非常广泛的应用。

传统的PLL芯片配置是先由射频设计人员仿真后得出自己所需的结果，将结果给予数字处理人员编程，转换为芯片能读取的寄存器值，配置好后由射频设计人员确认，如果与初始设计有差异或指标不满足时（硬件电路环境与仿真的实际差异），数字处理人员要重新根据射频设计人员的测试结果进行再次或多次的编程修改寄存器值，直到结果达到所需指标，修改量大，占用人力物力资源较多。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统。

一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，包括：数字处理单元，连接上位机与频综电路模块，用于解析接收的寄存器参数命令，并下发给频综电路模块；频综电路模块，根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形；频谱仪，被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形；上位机，向频综电路模块输入寄存器配置信息，并获取频谱仪输出波形的波形指标。

进一步的，一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，所述的频综电路模块为PLL芯片电路。

进一步的，一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，所述的数字处理单元采用FPGA可编程逻辑器件，将配置的寄存器参数按预设时序下发于频综电路模块。

进一步的，一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，所述的频综电路模块与频谱仪通过GPIB线连接。

进一步的，一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，所述的上位机为高性能PC。

进一步的，一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，所述的上位机与频综电路模块的通信方式为SPI通信或RS232通信。

本实用新型的有益效果：本实用新型利用上位机接收频谱仪的信号波形信息，判断波形指标是否合格，并手动或自动下发寄存器值，重新更新PLL芯片配置，以达到PLL芯片所需指标，前期有数字处理人员编写好上位机及FPGA程序，后期测试只需射频设计人员调试即可，减少FPGA编译时间，提高了效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构与原理示意图。

图2是本实用新型实现PLL芯片配置的原理流程示意图。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本实用新型的具体实施方式。

本实施例中，如图1所示，基于上位机的PLL芯片配置测试系统包括数字处理单元、频综模块、频谱仪以及上位机。