[实用新型]一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统有效
| 申请号： | 201921618981.0 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN211264298U | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 周雨石;李海龙;钟为金 | 申请（专利权）人： | 成都九洲迪飞科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F15/78 |
| 代理公司： | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人： | 郭肖凌 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新区天府大道*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 上位 pll 芯片 配置 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，包括：
数字处理单元，连接上位机与频综电路模块，用于解析接收的寄存器参数命令，并下发给频综电路模块；
频综电路模块，根据接收的寄存器配置信息输出对应信号波形；
频谱仪，被配置为接收并显示频综电路模块输出的信号波形；
上位机，向频综电路模块输入寄存器配置信息，并获取频谱仪输出波形的波形指标。
2.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，所述的频综电路模块为PLL芯片电路。
3.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，所述的数字处理单元采用FPGA可编程逻辑器件，将配置的寄存器参数按预设时序下发于频综电路模块。
4.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，所述的频综电路模块与频谱仪通过GPIB线连接。
5.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，所述的上位机为高性能PC。
6.根据权利要求1所述的一种基于上位机的PLL芯片配置测试系统，其特征在于，所述的上位机与频综电路模块的通信方式为SPI通信或RS232通信。
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