[实用新型]针对Mura缺陷的机器视觉检测系统

说明书

本实用新型公开了一种针对Mura缺陷的机器视觉检测系统，包括机体、遮光罩、XY轴移动单元、托盘、LED光源、CCD相机及计算机。机体包括一底座及支架。遮光罩将支架笼罩在其中，形成一环境光低于10lux的检测区，遮光罩具有一铰接帘门。XY轴移动单元用于驱动被载物经所述铰接帘门出入所述检测区，并在所述检测区中实现被载物的位置调整。托盘作为被载物，其边缘向上延伸形成围堰，待检测LCD面板放置在围堰中时，围堰高出待检测LED；LED光源位于围堰中以提供检测光；CCD相机搭载在支架上，以实现检测区的图像采集；计算机用于实现对所述XY轴移动单元、LED光源及CCD相机的控制。本实用新型通过巧妙的结构设计，降低了环境光对机器视觉检测系统检测结果的影响。

技术领域

本实用新型涉及机器视觉检测领域，尤其涉及针对Mura缺陷的机器视觉检测系统。

背景技术

随着液晶显示器的研究发展，显示器向大画面、低功耗、高分辨率和厚度小的方向发展，然而随着显示器的光学组件的尺寸的增大，厚度减小，导致液晶显示器的亮度不均，出现Mura缺陷的几率大大增加。

所以必须在液晶显示器生产制造过程中，通过缺陷检测来保证产品质量，但传统的人眼检测方式容易受主观因素和外界环境的影响，稳定性和精确度较差，难以满足生产需求且效率低。

因此，人们更多地考虑采用机器视觉进行Mura检测。然而，目前针对Mura检测的机器视觉检测系统，仍然存在一些缺陷，比如，容易受到环境光的影响，从而影响检测的准确度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种针对Mura缺陷的机器视觉检测系统，以降低环境光对检测结果的影响。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

针对Mura缺陷的机器视觉检测系统，包括：

机体，其包括一底座及安装在底座上的支架；

遮光罩，其将所述支架笼罩在其中，用于形成一环境光低于10lux的检测区，所述遮光罩具有一铰接帘门；

XY轴移动单元，其搭载在所述底座上，以驱动被载物经所述铰接帘门出入所述检测区，并在所述检测区中实现所述被载物的位置调整；

托盘，其作为所述被载物搭载在所述XY轴移动单元上，所述托盘的边缘向上延伸形成围堰，待检测LCD面板放置在围堰中时，所述围堰高出所述待检测LED；

LED光源，其位于所述围堰中，用于提供检测光；

CCD相机，其搭载在所述支架上，用于对进入检测区的待检测LCD面板实现图像采集；

计算机，所述计算机用于实现对所述XY轴移动单元、LED光源及CCD相机的控制。

优选地，所述围堰的边缘包覆有橡胶。

优选地，所述LED光源为背光源，其导光板搭载在所述围堰底部，其导光板的尺寸大于所述待检测LCD面板的尺寸；所述待检测LCD面板放置在所述导光板上。

优选地，所述导光板为磨砂导光板。

优选地，还包括光学测距仪，所述光学测距仪搭载在所述支架上，用于采集所述待检测LCD面板与所述CCD相机之间的距离并反馈给所述计算机，所述计算机控制所述CCD相机对焦。

优选地，所述计算机中配置有数据采集卡，CCD相机及光学测距仪分别与所述数据采集卡相连，以输入采集数据。

优选地，所述计算机中配置有运动控制卡，所述LED光源以及XY轴移动单元中的X轴电机与Y轴电机分别与所述运动控制卡相连，以执行相应动作。