[实用新型]一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置

说明书

本实用新型公开了一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置，包括符合探头，数据采集卡，放射源固定夹具，暗盒，暗盒为避光带可拆卸盒盖的暗盒，所述符合探头、数据采集卡、放射源固定夹具设置在暗盒内，符合探头设有两个，两个符合探头之间距离可调整，放射源固定夹具设置在两个符合探头之间，放射源固定夹具在X，Y，Z，三个方向均可调节移动距离，放射源固定夹具上固定放射源，检测装置设有USB供电口和USB数据传输口，本检测装置具有体积小，工作电压低，成本低廉，便于操作，可移动等特点，既可以测试单根晶体条还可以测试晶体阵列。

技术领域

本实用新型属于晶体材料检测领域，尤其涉及一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置。

背景技术

闪烁晶体材料广泛的应用辐射探测以及辐射成像等领域，在辐射成像领域，PET设备对闪烁晶体的时间性能要求十分严格，因此PET设备厂商往往需要闪烁晶体厂商提供其生产的晶体条以及晶体阵列的符合时间性能。传统的使用需要高压(1000V以上)才能工作的PMT和价格昂贵的高速示波器或采集卡的符合时间检测设备，体积大，工作电压高，成本昂贵，不易操作。

在申请号为：CN201811575889.0·，申请日为:2018-12-22名称为：一种闪烁晶体测试装置的专利中，公开了一种闪烁晶体测试装置，包括推进部件、装载部件、耦合部件和探测部件，推进部件具有推杆和与推杆连接的驱动器；装载部件包括装载主体和晶体测试单元，晶体测试单元设置于装载主体上；耦合部件呈筒状，耦合部件上设置有第一耦合视窗，装载部件设置于耦合部件内部，推进部件固定于耦合部件的一端，推杆抵触装载主体；探测部件包括光电转换器件和与光电转换器件连接的电子学读出装置，探测部件设置于耦合部件的另一端，探测部件上设置有与第一耦合视窗匹配的第二耦合视窗，晶体测试单元中的闪烁晶体与光电转换器件耦合。

发明内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置。

本实用新型的的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置，包括符合探头4，数据采集卡2，放射源固定夹具3，暗盒1，所述暗盒1为避光带可拆卸盒盖的暗盒，所述符合探头4、数据采集卡2、放射源固定夹具3设置在暗盒1内，所述符合探头4设有两个，两个符合探头4之间距离可调整，所述放射源固定夹具3设置在两个符合探头4之间，所述放射源固定夹具3在X，Y，Z，三个方向均可调节移动距离，所述放射源固定夹具3上固定放射源305，所述检测装置设有USB供电口和USB数据传输口。

优选的，每个所述符合探头4由一个8x8SiPM阵列和前端电子学系统构成，所述前端电子学系统包含位置编码电路，TDC电路，ADC电路以及FPGA。

优选的，所述放射源305为Na-22或Ge-68或F-18。

优选的，两个所述符合探头4分别设置在探头移动座402上，两个探头移动座402底部固定在滑移轨道404左右移动，所述探头移动座402底部通过左右滑块403沿着滑移轨道404移动。

更优选的，所述放射源固定夹具3设有放射源固定座301。

更优选的，所述放射源固定座301底部设有可伸缩固定杆302。

更优选的，所述可伸缩固定杆302通过第一滑块沿着垂直轨道303滑动，所述垂直轨道303通过第二滑块304固定在滑移轨道404上并沿着滑移轨道404滑动，所述垂直轨道303的滑动方向与滑移轨道404的滑动方向垂直。

本实用新型的有益效果：

本检测装置具有体积小，工作电压低，成本低廉，便于操作，可移动，既可以测试单根晶体条还可以测试晶体阵列。

附图说明

图1为一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置的结构示意图。