[实用新型]一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置有效
| 申请号： | 201920502046.1 | 申请日： | 2019-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN209946404U | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 屈春蕾;祁建伟 | 申请（专利权）人： | 无锡通透光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 32262 无锡市朗高知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 放射源 固定夹具 探头 暗盒 检测装置 数据采集卡 本实用新型 固定放射源 可拆卸盒盖 可调节移动 测试 单根晶体 晶体阵列 闪烁晶体 电压低 可调整 可移动 体积小 光带 | ||
1.一种闪烁晶体的符合时间性能的检测装置，包括符合探头(4)，数据采集卡(2)，放射源固定夹具(3)，暗盒(1)，所述暗盒(1)为避光带可拆卸盒盖的暗盒，所述符合探头(4)、数据采集卡(2)、放射源固定夹具(3)设置在暗盒(1)内，所述符合探头(4)设有两个，两个符合探头(4)之间距离可调整，所述放射源固定夹具(3)设置在两个符合探头(4)之间，所述放射源固定夹具(3)在X，Y，Z，三个方向均可调节移动距离，所述放射源固定夹具(3)上固定放射源(305)，所述检测装置设有USB供电口和USB数据传输口。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于：每个所述符合探头(4)由一个8x8 SiPM阵列和前端电子学系统构成，所述前端电子学系统包含位置编码电路，TDC电路，ADC电路以及FPGA。
3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于：所述放射源(305)为Na-22或Ge-68或F-18。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于：两个所述符合探头(4)分别设置在探头移动座(402)上，两个探头移动座(402)底部固定在滑移轨道(404)左右移动，所述探头移动座(402)底部通过左右滑块403沿着滑移轨道(404)移动。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于：所述放射源固定夹具(3)设有放射源固定座(301)。
6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于：所述放射源固定座(301)底部设有可伸缩固定杆(302)。
7.如权利要求6所述的检测装置，其特征在于：所述可伸缩固定杆(302)通过第一滑块沿着垂直轨道(303)滑动，所述垂直轨道(303)通过第二滑块304固定在滑移轨道(404)上并沿着滑移轨道(404)滑动，所述垂直轨道(303)的滑动方向与滑移轨道(404)的滑动方向垂直。
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