[实用新型]一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具有效
申请号: | 201920442544.1 | 申请日: | 2019-04-03 |
公开(公告)号: | CN209592004U | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 王俊;金嘉辉;周魏;程宏;王勤;傅丁丁 | 申请(专利权)人: | 杭州载力科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/687;H01L21/66 |
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地址: | 311121 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体晶圆 夹具 定位组件 橡胶垫 支撑板 本实用新型 定位夹具 定位气缸 设备搬运 升降组件 导向杆 底板 压力传感器 夹紧定位 升降过程 停止运行 支撑夹具 中心运动 电控柜 夹紧头 气控柜 保证 滑槽 滑块 控柜 立柱 气源 噪音 | ||
本实用新型提供一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具,包括底板,立柱,支撑板,升降组件,定位组件,电控柜,橡胶垫和气控柜,本实用新型的定位组件,橡胶垫和升降组件的设置,气控柜为定位气缸提供气源,推动三个夹具向中心运动,三个夹紧头对半导体晶圆进行夹紧定位,提高半导体晶圆的定位精度,在压力传感器上设置压力值,当压力值达到设定值时定位气缸停止运行,避免夹具过紧或过松,保证半导体晶圆不受损坏,且保证定位精度,在夹具的下方设置滑块,起到支撑夹具的作用,且使夹具沿着滑槽的方向运行,保证定位组件的定位精度,在导向杆和支撑板的连接处设置橡胶垫,防止导向杆和支撑板直接接触,避免在升降过程中发出噪音。
技术领域
本实用新型属于半导体晶圆检测技术领域,尤其涉及一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具。
背景技术
晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆,在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品,晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅,二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,半导体晶圆在生产过程中平整度的好坏不仅影响半导体晶圆的品质,而且还影响着半导体晶圆的后期加工,需要及时进行晶圆的检测。
中国专利公开号为CN 207752966 U,发明创造的名称为一种半导体晶圆的检测装置,包括横梁,所述横梁的两端对称安装有立柱,且在横梁的中部安装有检测笔,所述检测笔的顶部安装有显示器,且在检测笔的外部设有水平液位泡,所述检测笔的最下端安装有滚珠,所述检测笔的内部设有弹簧,且在弹簧的上端设有压力传感器,所述压力传感器的上部设有控制模块,由于设置检测笔从而使得便于该装置携带,从而有利于现场检测,进而便于及时发现问题,及时解决,同时设置的横梁可以固定检测笔,保证检测笔在检测过程中水平稳定不晃动,显示器显示控制模块反馈的信号,并通过线条样式显示出来,使得半导体晶圆表面平整度可以清楚直观的被显示出来,因此本实用新型携带方便、检测准确值得推广。但现有半导体晶圆检测装置缺少定位夹紧机构,影响检测效率和质量,在夹紧过程中缺少力度检测机构,过紧容易造成晶圆损坏,过松造成定位不准确,晶圆在升降过程中容易出现偏斜的现象,影响检测装置的正常运行的问题。
因此,发明一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具显得非常必要。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提供一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具,以解决现有半导体晶圆检测装置缺少定位夹紧机构,影响检测效率和质量,在夹紧过程中缺少力度检测机构,过紧容易造成晶圆损坏,过松造成定位不准确,晶圆在升降过程中容易出现偏斜的现象,影响检测装置的正常运行的问题。一种半导体晶圆设备搬运的定位夹具,包括底板,立柱,支撑板,升降组件,定位组件,电控柜,橡胶垫和气控柜,所述立柱采用两个,通过螺栓固定在底板上方的两端;所述支撑板通过螺栓固定在立柱的上方;所述电控柜通过螺栓固定在立柱左侧的下方;所述气控柜通过螺栓固定在立柱左侧的上方;所述升降组件通过螺栓固定在底板上方的中间位置,上端贯穿至支撑板的上端;所述橡胶垫采用三个,卡接在升降组件与支撑板连接处的内侧;所述定位组件采用三个,通过螺栓均匀固定在支撑板上方的圆周上。
所述升降组件包括升降气缸,推板,导向杆和升降板,所述升降气缸通过螺栓固定在底板上方的中间位置;所述推板通过螺栓固定在升降气缸的上方;所述导向杆采用三个,通过螺栓均匀固定在推板上方的圆周上,上端贯穿至支撑板的上方;所述升降板通过螺栓固定在导向杆的上方。
所述升降气缸通过管道与气控柜相连,选用SDAJ32-20-20S型;所述升降板采用圆环形,外径大于推板的直径,内径小于推板的直径,气控柜为升降气缸提供气源,带动推板上下运动,实现升降板的升降作业。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造