[发明专利]一种用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测方法及系统

说明书

本发明公开了一种用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测方法及系统，其中方法包括：通过光电倍增管对入射光信号进行转换，将转换后的脉冲信号输出至微光探测器中设置的计数模块；通过所述计数模块对接收的所述脉冲信号进行计数，获取计数值；当所述计数值超过预定的上限值时，将高电平信号输入门控电路模块，将低电平信号输入继电器模块，所述光电倍增管的各个倍增极形成电势差为0，所述光电倍增管关闭。

技术领域

本发明涉及微光检测技术领域，更具体地，涉及一种用于防止光电倍增管强光损伤的微光探测方法及系统。

背景技术

微弱光检测技术在瑞利散射、生物发光、化学发光、天文、荧光分析等方面等有着广泛的应用。使用PMT制作的微弱光探测器，具有计数稳定性高、抗干扰能力强、低噪声、高探测效率等特点，是诸多实验系统中的重要组成部分。

PMT：全称为PhotoMultiplier Tube，即光电倍增管。它是一种能将微弱光信号转换成电信号的真空电子器件。利用外光电效应把入射光子转变为光电信号的探测器。光电倍增管由入射窗、光阴极面、倍增系统和阳极等部分组成。光阴极面在光子的激励下，向真空中发射出电子(外光电效用),在电场作用下，经聚焦极汇集到第一倍增极，这些冲击倍增的电子可以释放更多的电子。然后依次相继经过各倍增极，进行二次电子倍增。最后由末级倍增极发射的二次电子通过阳极输出。

目前现有技术由于实验方案缺陷或是人为失误等原因，可能会导致干扰光入射到探测器中成为过大的输入，使光电倍增管及其后续回路饱和，会导致计数率不准确甚至损坏光电倍增管PMT，造成不可逆的不良影响。

因此，需要一种技术，以实现用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测方法。

发明内容

本发明技术方案提供一种用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测方法及系统，以解决在微光探测过程中如何防止强光损伤光电倍增管的问题。

为了解决上述问题，本发明提供了一种用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测方法，所述方法包括：

通过光电倍增管对入射光信号进行转换，将转换后的脉冲信号输出至微光探测器中设置的计数模块；

通过所述计数模块对接收的所述脉冲信号进行计数，获取计数值；

当所述计数值超过预定的上限值时，将高电平信号输入门控电路模块，将低电平信号输入继电器模块，所述光电倍增管的各个倍增极形成电势差为0，所述光电倍增管关闭。

优选地，所述脉冲信号为TTL脉冲信号。

优选地，还包括：

通过所述计数模块按预设的时间间隔对接收的所述脉冲信号进行计数，获取计数值；

将所述计数值发送至智能终端进行存储。

优选地，所述当所述计数值超过预定的上限值时，将高电平信号输入门控电路模块，将低电平信号输入继电器模块，所述光电倍增管的各个倍增极形成电势差为0，所述光电倍增管关闭，还包括：

所述门控电路模块的三极管导通，阴极面和第一倍增级、第二倍增级以及第三倍增级之间形成电势差为0，所述光电倍增管关闭。

优选地，所述当所述计数值超过预定的上限值时，将高电平信号输入门控电路模块，将低电平信号输入继电器模块，所述光电倍增管的各个倍增极形成电势差为0，所述光电倍增管关闭，还包括：

所述继电器模块断开，切断所述光电倍增管的高压电源供电，所述光电倍增管的各个倍增极停止工作，所述光电倍增管关闭。

基于本发明的另一方面，提供一种用于防止强光损伤光电倍增管的微光探测系统，所述系统包括：