[发明专利]一种三维堆叠存储芯片结构及其封装方法在审

专利信息
申请号: 201911314135.4 申请日: 2019-12-19
公开(公告)号: CN111106123A 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 姚大平 申请(专利权)人: 江苏中科智芯集成科技有限公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11578
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 张东梅
地址: 221000 江苏省徐州市经济技*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 三维 堆叠 存储 芯片 结构 及其 封装 方法
【说明书】:

发明公开一种三维堆叠存储芯片结构,包括第一叠加芯片模块;与所述第一叠加芯片模块电连接的重布线层;贴装于重布线层表面的第二叠加芯片模块;以及与所述重布线层及所述第二叠加芯片模块电连接的外接焊球。其中,芯片叠加模块包括错位粘接的两个芯片、包覆芯片的塑封层以及贯穿塑封层,与芯片焊盘电连接的导电通道。

技术领域

本发明涉及半导体集成电路封装技术领域,特别涉及一种三维堆叠存储芯片的封装技术。

背景技术

随着半导体集成电路行业技术的迅猛发展,电子封装产品有着高密度、多功能的发展趋势。三维堆叠封装是指将至少两层芯片堆叠设置并进行封装,因此其可以在更小的空间内集成更多的半导体芯片。采用三维堆叠的方式封装存储芯片,可以在较小的体积里实现更大的存储量。

但是现有的工艺技术制作方法复杂、成本较高,同时加工过程中容易产生翘曲或芯片破碎等问题。

发明内容

为了解决现有技术中的全部或部分问题,本发明一方面提供一种三维堆叠存储芯片结构,包括:

第一叠加芯片模块;

重布线层,所述重布线层与所述第一叠加芯片模块电连接;

第二叠加芯片模块,所述第二叠加芯片模块位于所述重布线层表面;以及

外接焊球,所述外接焊球与所述重布线层及所述第二叠加芯片模块电连接。

进一步地,所述第一叠加芯片模块包括:

第一芯片;

第二芯片,所述第二芯片错位粘贴于所述第一芯片表面;

第一导电通道,所述第一导电通道与所述第一芯片及所述重布线层电连接;

第二导电通道,所述第二导电通道与所述第二芯片及所述重布线层电连接;以及

第一塑封层,所述第一塑封层包覆所述第一芯片、第二芯片、第一导电通道及第二导电通道。

进一步地,所述第二叠加芯片模块包括:

第三芯片;

第四芯片,所述第四芯片错位粘贴于所述第三芯片表面;

第三导电通道,所述第三导电通道与所述第三芯片电连接;

第四导电通道,所述第四导电通道与所述第四芯片电连接;以及

第二塑封层,所述第二塑封层包覆所述第三芯片、第四芯片、第三导电通道及第四导电通道。

进一步地,所述重布线层实现对所述第一叠加芯片模块的扇出互连。

进一步地,所述外接焊球通过第五导电通道与所述重布线层电连接。

进一步地,所述第二芯片通过粘附膜贴在所述第一芯片的焊盘面,但露出第一芯片的全部焊盘,所述第四芯片通过粘附膜贴在所述第三芯片的焊盘面,但露出第三芯片的全部焊盘。

进一步地,所述第一塑封层及第二塑封层的材料为树脂材料。

进一步地,所述第一导电通道和/或第二导电通道和/或第三导电通道和/或第四导电通道可由填充金属浆料,并固化所得。

本发明另一方面提供该种三维堆叠存储芯片结构的封装方法,包括:

在第一临时基板表面覆盖第一临时键合膜;

将第一芯片背面贴在第一临时键合膜表面;

将第二芯片的背面贴在所述第一芯片的焊盘面,但露出所述第一芯片的全部焊盘;

形成第一塑封层;

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