[发明专利]一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备

权利要求书

1.一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，包括传送带(1)，其特征在于：所述传送带(1)的表面固定连接有支撑架(2)，支撑架(2)的表面固定连接有镜头(3)，支撑架(2)的内部活动连接有扇叶(4)，扇叶(4)的表面固定连接有转轴(5)，支撑架(2)的内部且位于扇叶(4)远离转轴(5)的一侧固定连接有检测机构(6)；

所述检测机构(6)包括滑动体(7)，滑动体(7)的内部滑动连接有阻隔块(8)，阻隔块(8)的表面固定连接有通气管(9)，通气管(9)远离阻隔块(8)的一端固定连接有分流管(10)，分流管(10)远离通气管(9)的一端固定连接有弹性杆(11)；

分布在支撑架(2)上部和下部的检测机构(6)喷出同样均匀度的气流，所述传送带(1)的表面且位于检测机构(6)的两侧均开设有落入口(15)，若晶体表面有崩边的现象，则会导致其受力不均匀，而向一边偏移，最终从落入口(15)掉落下来。

2.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述弹性杆(11)的表面套接有轴套(12)，轴套(12)的表面开设有气孔(13)。

3.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述转轴(5)的表面套接有滚轮(14)。

4.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述扇叶(4)处于滚轮(14)的中心位置。

5.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述检测机构(6)分布在支撑架(2)的两侧。

6.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述分流管(10)的数量是三个，弹性杆(11)的数量也是三个。

7.根据权利要求1所述的一种以二氧化硅矿石为原料的集成电路用晶片检测设备，其特征在于：所述分流管(10)与弹性杆(11)两两相互配合。