[发明专利]标定双端探测器的DOI刻度的方法、装置及PET扫描设备

说明书

一种双端探测器的DOI自动刻度方法和装置，通过将测到的探测器数据通过能量比得到DOI比值，并统计DOI比值及其事件信息以绘制DOI曲线，然后通过拟合公式对DOI曲线进行拟合得到DOI边界值，再基于DOI边界值标定DOI刻度，用曲线拟合的方法自动寻找DOI曲线边界值，结果可靠性高；PET扫描设备使用过程中，通过查找存储的DOI刻度的表，便于在线实时计算。

技术领域

本申请属于医学影像设备技术领域，尤其涉及一种标定双端探测器的DOI刻度的方法及装置、PET扫描设备。

背景技术

目前，正电子发射断层扫描成像(Positron Emission Tomography，PET)是一种具有高灵敏度的分子影像技术，用于肿瘤成像、脑科学疾病研究等。作用深度(Depth OfInteraction，DOI)是阻碍PET成像系统同时实现均匀高空间分辨率和高效率的主要因素。传统的基于双端读出的PET探测器可以提供很高的深度分辨率，同时也可以提供连续的深度信息，是一种同时实现高空间分辨率和高灵敏度的有效解决方法。

然而，目前传统的双端读出PET探测器没有可参考的深度自动刻度方法，多采用手动寻找边界再进行线性刻度得到深度查找表(DOI查找表)，然而针对PET成像系统，其使用的晶体数通常很多(大于5000个闪烁晶体)，手动刻度变得难度高，工作量也大。

发明内容

本申请的目的在于提供一种双端探测器的DOI自动刻度方法、装置及PET扫描设备，旨在解决传统的PET探测器的DOI自动方法难度高，工作量大的问题。

本申请实施例的第一方面提了一种双端探测器的DOI自动刻度方法，包括：

对双端探测器的采集到的数据进行能量比计算，得到作用深度DOI比值；

获取每个所述DOI比值对应的事件信息，并基于所述DOI比值以及各自对应的事件信息绘制DOI曲线；

对所述DOI曲线进行近似拟合，并基于拟合后的DOI曲线确定DOI边界值；

基于所述DOI边界值标定DOI刻度。

本申请实施例的第二方面提了一种双端探测器的DOI自动刻度装置，包括：

第一计算模块，用于对双端探测器的采集到的数据进行能量比计算，得到作用深度DOI比值；

曲线绘制模块，用于获取每个所述DOI比值对应的事件信息，并基于所述DOI比值以及各自对应的事件信息绘制DOI曲线；

第二计算模块，用于对所述DOI曲线进行近似拟合，并基于拟合后的DOI曲线确定DOI边界值；

刻度模块，用于基于所述DOI边界值标定DOI刻度。

本申请实施例的第三方面提了一种PET扫描设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述方法的步骤。

本申请实施例的第四方面提了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述DOI自动刻度方法的步骤。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

上述的双端探测器的DOI自动刻度方法和装置通过将测到的探测器数据通过能量比得到DOI比值，并统计DOI比值及其事件信息以绘制DOI曲线，然后通过拟合公式对DOI曲线进行拟合得到DOI边界值，再基于DOI边界值标定DOI刻度，用曲线拟合的方法自动寻找DOI曲线边界值，结果可靠性高；PET扫描设备使用过程中，通过查找存储的DOI刻度的表，便于在线实时计算。

附图说明

图1为本申请实施例提供的双端探测器的DOI自动刻度方法的具体流程图；