[发明专利]标定双端探测器的DOI刻度的方法、装置及PET扫描设备

权利要求书

1.一种标定双端探测器的DOI刻度的方法，其特征在于，包括：

对双端探测器的采集到的数据进行能量比计算，得到作用深度DOI比值；

获取每个所述DOI比值对应的事件信息，并基于所述DOI比值以及各自对应的事件信息绘制DOI曲线；

对所述DOI曲线进行近似拟合，并基于拟合后的DOI曲线确定DOI边界值；

基于所述DOI边界值标定DOI刻度；

所述对所述DOI曲线进行近似拟合，并基于拟合后的DOI曲线确定DOI边界值包括：

采用以下拟合公式对所述DOI曲线进行近似拟合，并根据拟合公式拟合得到DOI边界值；

其中，A为幅度系数，α为指数衰减系数，Erf(x)为误差函数，δ为均方根误差，x为DOI比值，a为拟合后的DOI曲线的左边界值，b为拟合后DOI曲线的右边界值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述DOI边界值标定DOI刻度，包括：

将所述DOI边界值之间的DOI比值等分成N份，得到DOI刻度表，N为大于等于2的整数。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述双端探测器包括第一PET探测器和第二PET探测器，所述双端探测器的采集到的数据包括所述第一PET探测器采集到的第一能量值和所述第二PET探测器采集到的第二能量值；

所述对双端探测器的采集到的数据进行能量比计算，得到作用深度DOI比值，包括：将所述第一能量值和所述第二能量值代入以下公式计算DOI比值；

其中，E1为所述第一能量值，E2为所述第二能量值。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一PET探测器和所述第二PET探测器均为硅光电倍增管阵列，所述双端探测器还包括设于所述第一PET探测器和所述第二PET探测器之间的闪烁晶体阵列。

5.一种标定双端探测器的DOI刻度的装置，其特征在于，包括：

第一计算模块，用于对双端探测器的采集到的数据进行能量比计算，得到作用深度DOI比值；

曲线绘制模块，用于获取每个所述DOI比值对应的事件信息，并基于所述DOI比值以及各自对应的事件信息绘制DOI曲线；

第二计算模块，用于对所述DOI曲线进行近似拟合，并基于拟合后的DOI曲线确定DOI边界值；

刻度模块，用于基于所述DOI边界值标定DOI刻度；

所述第二计算模块具体用于采用以下拟合公式对所述DOI曲线进行近似拟合，并根据拟合公式拟合得到DOI边界值：

其中，A为幅度系数，α为指数衰减系数，Erf(x)为误差函数，δ为均方根误差，x为DOI比值，a为拟合后的DOI曲线的左边界值，b为拟合后的DOI曲线的右边界值。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述双端探测器包括第一PET探测器和第二PET探测器，所述双端探测器的采集到的数据包括所述第一PET探测器采集到的第一能量值和所述第二PET探测器采集到的第二能量值；

所述第一计算模块具体用于将所述第一能量值和所述第二能量值代入以下公式计算DOI比值；

其中，E1为所述第一能量值，E2为所述第二能量值。

7.一种PET扫描设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述方法的步骤。