[发明专利]物品抓取方法、装置、存储介质及电子装置

权利要求书

1.一种物品抓取方法，其特征在于，包括：

确定目标区域中包括的目标点的法向量及残差；

利用所述目标点的法向量及残差在所述目标区域内进行平面分割，以得到目标平面；

确定进行平面分割后得到的目标平面的抓取顺序；

按照所述抓取顺序对所述目标平面对应的物品进行抓取；

其中，确定进行平面分割后得到的目标平面的抓取顺序包括：确定所述目标平面的法向量与预定方向的夹角，以及，确定所述目标平面的高度；基于所述夹角与所述高度确定所述目标平面的抓取顺序。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标区域中包括的目标点的法向量及残差：

确定所述目标点中与所述目标点中包括的第一点最邻近的K个点，其中，K为大于零的整数；

基于所述K个点中的部分点确定所述第一点的法向量及残差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定所述目标点中与所述目标点中包括的第一点最邻近的K个点包括：

基于K近邻KNN算法确定所述目标点中与所述第一点最邻近的K个点。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述K个点中的部分点确定所述第一点的法向量及残差包括：

基于所述K个点中的部分点采用最小二乘法确定所述第一点的法向量及残差。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述K个点中的部分点采用最小二乘法确定所述第一点的法向量及残差包括：

通过如下公式确定所述第一点的协方差矩阵∑：其中，p_i为所述K个点中距离所述第一点最近的前K/2个点，为所述前K/2点的均值点；

通过如下公式确定各个特征向量以及各个特征值：λV＝∑V，其中，V为特征向量，λ为特征值；

将特征值中包括的取值最小的特征值确定为所述第一点的所述残差，将所述取值最小的特征值对应的特征向量确定为所述第一点的法向量。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述目标点的法向量及残差在所述目标区域内进行平面分割，以得到目标平面包括：

循环执行以下操作，直到将所有的目标点均移除为止：

将所述第一点从所述目标点中移除，并将所述第一点作为第一平面的初始种子点；

从所述目标点中确定出满足预定条件的第一种子点并将所述第一种子点从所述目标点中移除；

基于所述第一点和确定出的满足所述预定条件的点确定第一平面；

重新在所述目标点中确定第一点。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，从所述目标点中确定出满足预定条件的第一种子点并将所述第一种子点从所述目标点中移除包括：

在与所述第一点的最邻近的K个点中确定出满足第一预定条件的第二点并将所述第二点从所述目标点中移除，其中，所述第一预定条件包括法向量与所述第一点的法向量的夹角小于预定角度阈值，且残差小于残差阈值；

循环执行以下操作，直到所述第二点中的点都被移除为止：

在与所述第二点中包括的第三点最邻近的K个点中确定出满足第二预定条件的第四点并将所述第四点从所述目标点和/或所述第二点中移除，其中，所述第二预定条件包括法向量与所述第三点的法向量的夹角小于所述预定角度阈值，且残差小于所述残差阈值；

重新在所述第二点中确定第三点。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述夹角与所述高度确定所述目标平面的抓取顺序包括：

基于所述夹角确定所述目标平面的姿态代价，以及，基于所述高度确定所述目标平面的高度代价；

通过如下公式确定所述目标平面的抓取代价F_cost：

其中，w₁、w₂为基于所述目标区域所处的场景所确定的权重因子，F_z为经过归一化的姿态代价、高度代价；

基于F_cost确定所述目标平面的抓取顺序。