[发明专利]阴影相位误差补偿方法及装置有效
申请号: | 201911018508.3 | 申请日: | 2019-10-24 |
公开(公告)号: | CN110779467B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 孙正;金一;段明辉;陈恩红;竺长安 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阴影 相位 误差 补偿 方法 装置 | ||
本发明提供了一种阴影相位误差补偿方法及装置,涉及结构光测量领域,该方法包括:获取待测物体的相位图;确定所述相位图中的阴影区域,并判断所述阴影区域的类型;若判断出所述阴影区域的类型为有效类型,则确定所述阴影区域中每个像素点的恢复顺序,依据所述恢复顺序依次获取所述阴影区域中每个像素点的预测值,以对所述阴影区域的每个所述像素点进行相位恢复;若判断出所述阴影区域的类型为无效类型,则将所述阴影区域各个像素点的相位值替换为所述相位图的背景区域相位值。应用本发明实施例提供的方法,能够找到相位图中的阴影区域,并依据阴影区域的类型执行相应的相位恢复操作,有效的减少结构光测量中的阴影相位误差。
技术领域
本发明涉及结构光测量领域,特别涉及一种阴影相位误差补偿方法及装置。
背景技术
随着科学技术的发展,测量技术也得到长足发展,在测量领域,往往会应用到结构光测量技术对物体进行测量。结构光测量通常是将某种形状的结构光投射到待测量物体表面,然后通过检测结构光的偏移距离得到物体的三维信息,进而实现对待测量物体的测量。
经本发明人研究发现,现有的结构光测量技术中,往往会应用到数字条纹投影系统,然而,数字条纹投影系统是基于三角定位原理的立体视觉系统,即,数字条纹投影系统中相机的视点和投影仪的视点不同,在测量过程中,难以避免阴影的产生,当相机捕获到带有阴影的条纹图像时,提取到的相位图就会存在误差,进而影响到对待测物体的测量效果。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种阴影相位误差补偿方法,能够找到相位图中的阴影区域,并依据阴影区域的类型执行相应的相位恢复操作,有效的减少结构光测量中的阴影相位误差。
本发明还提供了一种阴影相位误差补偿装置,用以保证上述方法在实际中的实现及应用。
一种阴影相位误差补偿方法,包括:
获取待测物体的相位图;
确定所述相位图中的阴影区域,并判断所述阴影区域的类型;
若判断出所述阴影区域的类型为有效类型,则确定所述阴影区域中每个像素点的恢复顺序,依据所述恢复顺序依次获取所述阴影区域中每个像素点的预测值,以对所述阴影区域的每个所述像素点进行相位恢复;
若判断出所述阴影区域的类型为无效类型,则将所述阴影区域各个像素点的相位值替换为所述相位图的背景区域相位值。
上述的方法,可选的,所述确定所述相位图中的阴影区域,包括:
确定所述相位图的目标区域中每个像素点对应的方差值;所述方差值为其所属的像素点的相位值和该像素点的各个邻域像素点的相位值的方差值;
依据所述目标区域中各个所述像素点对应的方差值,建立所述目标区域的方差分布图;
基于所述方差分布图,确定所述相位图中的阴影区域。
上述的方法,可选的,所述判断所述阴影区域的类型,包括:
获取所述阴影区域中每个像素点的权重系数、该像素点的各个邻域像素点的权重系数和预先设置的参考值;
基于所述阴影区域中每个像素点的相位值、该像素点的各个邻域像素点的相位值、各个所述权重系数和所述参考值,得到所述阴影区域的类型特征值;
将所述类型特征值与预先设置的类型阈值进行比对;
若所述类型特征值大于等于所述类型阈值,则确定所述阴影区域的类型为有效类型;
若所述类型特征值小于所述类型阈值,则确定所述阴影区域的类型为无效类型。
上述的方法,可选的,所述确定所述阴影区域中每个像素点的恢复顺序,包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学,未经中国科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911018508.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:第三轨磨耗检测装置以及方法
- 下一篇:一种金属管件弯曲回弹测量装置