[发明专利]等离子体刻蚀装置在审
申请号: | 201911000922.1 | 申请日: | 2019-10-21 |
公开(公告)号: | CN110729161A | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | 赵博超;施洋;郑江楠 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01J37/147 | 分类号: | H01J37/147;H01J37/30;H01J37/305 |
代理公司: | 31211 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子体束 等离子体刻蚀装置 电场 反应腔 待处理晶片 电场发生器 静电吸盘 磁场 申请 半导体加工设备 等离子体分布 等离子体 等离子体流 磁场径向 径向延伸 轴向穿过 轴向延伸 释放口 轰击 环向 吸附 穿过 束缚 | ||
1.一种等离子体刻蚀装置,其特征在于,包括反应腔,反应腔内设置有:
静电吸盘,静电吸盘用于吸附待处理晶片;
等离子体束释放口,等离子体束缚口用于形成轰击待处理晶片的等离子体束;
电场发生器,电场发生器用于产生电场;
反应腔内形成有磁场,当等离子体刻蚀装置工作时,磁场沿着等离子体束的径向延伸;电场沿等离子体束的轴向延伸。
2.如权利要求1的等离子体刻蚀装置,其特征在于,电场发生器包括相对放置的第一电极和第二电极,第一电极和第二电极连接振荡射频源。
3.如权利要求1的等离子体刻蚀装置,其特征在于,磁场在垂直于电场的平面内旋转。
4.如权利要求1或3的等离子体刻蚀装置,其特征在于,圆柱形的磁场发生器可旋转地套设在反应腔外;磁场发生器上形成相对的阳极区和阴极区,阳极区和阴极区之间形成磁场。
5.如权利要求1或3的等离子体刻蚀装置,其特征在于,磁场的磁通量为50~200G。
6.如权利要求1的等离子体刻蚀装置,其特征在于,垂直于电场方向的反应腔两侧相对地设有阳极板和阴极板,阳极板和阴极板之间形成磁场。
7.如权利要求1的等离子体刻蚀装置,其特征在于,反应腔为真空腔,反应腔连有真空泵。
8.如权利要求1的等离子体刻蚀装置,其特征在于,还包括放电顶针,放电顶针的导电端能够周期性地接触待处理晶片。
9.如权利要求8的等离子体刻蚀装置,其特征在于,所述放电顶针的放电端通过推杆与电机连接,电机的转速为400~500rpm。
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