[发明专利]载物台、物性测定装置及测定方法在审
| 申请号： | 201910617937.6 | 申请日： | 2019-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN110715793A | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 长谷川彻;越野哲史 | 申请（专利权）人： | 住友化学株式会社 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 葛凡 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 载物台 光学膜 物性 全部区域 物性测定 面积率 载置 | ||
【权利要求书】：
1.一种载物台，其是用于测定光学膜的物性值的载物台，其部分接触面积率在所述载物台的光学膜载置面的全部区域中为45％以下。
2.根据权利要求1所述的载物台，其中，所述载物台在光学膜载置面具有突起。
3.根据权利要求2所述的载物台，其中，所述突起在所述载物台的纵向或横向上以0.5mm以上且30mm以下的间隔进行配置。
4.一种光学膜的物性测定装置，其具备权利要求1～3中任一项所述的载物台。
5.一种测定方法，其是光学膜的物性值的测定方法，其包括：
在权利要求1～3中任一项所述的载物台上载置光学膜的工序；
对载置于所述载物台的光学膜的物性值进行测定的工序；以及
从载物台卸下所述光学膜的工序。
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