[发明专利]载物台、物性测定装置及测定方法在审

专利信息
申请号: 201910617937.6 申请日: 2019-07-09
公开(公告)号: CN110715793A 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 长谷川彻;越野哲史 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/04
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 葛凡
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及载物台、物性测定装置及测定方法。一种载物台,其是用于测定光学膜的物性值的载物台,其部分接触面积率在上述载物台的光学膜载置面的全部区域中为45%以下。
搜索关键词: 载物台 光学膜 物性 全部区域 物性测定 面积率 载置
【主权项】:
1.一种载物台,其是用于测定光学膜的物性值的载物台,其部分接触面积率在所述载物台的光学膜载置面的全部区域中为45%以下。/n
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