[发明专利]存储器故障处理方法和装置

说明书

本公开涉及集成电路技术领域，具体涉及一种存储器故障处理方法和存储器故障处理装置。本公开中的存储器故障处理方法包括：确定所述存储器中出现存储故障的故障类型，所述故障类型包括软故障和硬故障；当所述故障类型为软故障时，获取用于调整所述存储器的工作参数的修复编码；将所述修复编码写入所述存储器的软故障修复控制器，以由所述软故障修复控制器生成软故障修复指令；根据所述软故障修复指令调整所述存储器的工作参数。本公开采用向软故障修复控制器写入修复编码的方式对存储器的工作参数做出调整，可以适应性地修复存储故障，降低修复成本，提高修复效率。

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域，具体涉及一种存储器故障处理方法和存储器故障处理装置。

背景技术

存储器是各种电子设备中用于存储数据的重要部件，随着集成电路技术的发展，存储器芯片的精密程度和复杂程度日益提高。由于生产工艺和生产条件的限制，生产得到的存储器芯片也并非完美无缺，因此对于存储器的故障诊断和修复也提出了越来越高的要求。

在存储器的生产过程中通常需要经过多道严格的测试工序，测试的主要目的是保证存储器在相对严苛的测试环境下能够完全实现设计规格所规定的各项功能及性能指标，使得存在缺陷的存储器能够在进入市场前便被筛选出来，从而能够提高存储器的良品率和生产效率。

然而，对于生产测试过程中或者实际使用过程中出现存储故障的存储器而言，如何对其进行有效地故障排除和修复以使其能够符合各种测试规格要求并且能够持续长久地提供优质的存储功能始终是需要面对的问题。在存储器量化生产的情况下，现有的存储器故障修复方法通常较为单一，缺少针对性，普遍存在修复成本高、修复效率低下等问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种存储器故障处理方法和存储器故障处理装置，进而至少在一定程度上克服存储器修复针对性较差、修复成本高、修复效率低下等技术问题。

根据本公开的一个方面，提供一种存储器故障处理方法，所述方法包括：

确定所述存储器中出现存储故障的故障类型，所述故障类型包括软故障和硬故障；

当所述故障类型为软故障时，获取用于调整所述存储器的工作参数的修复编码；

将所述修复编码写入所述存储器的软故障修复控制器，以由所述软故障修复控制器生成软故障修复指令；

根据所述软故障修复指令调整所述存储器的工作参数。

在本公开的一些示例性实施方式中，基于以上技术方案，确定所述存储器中出现存储故障的故障类型，包括：

获取所述存储器出现存储故障的故障原因；

根据所述故障原因确定所述存储故障的故障类型。

在本公开的一些示例性实施方式中，基于以上技术方案，确定所述存储器中出现存储故障的故障类型，包括：

当所述存储器在基本功能测试阶段出现存储故障时，将所述存储故障的故障类型确定为硬故障；

当所述存储器在刷新测试阶段出现存储故障时，将所述存储故障的故障类型确定为软故障。

在本公开的一些示例性实施方式中，基于以上技术方案，所述工作参数包括所述存储器的操作电压和所述存储器的刷新周期；所述修复编码包括用于调整所述操作电压的电压调整编码和用于调整所述刷新周期的周期调整编码。

在本公开的一些示例性实施方式中，基于以上技术方案，所述软故障修复控制器包括电压调整编程区域和周期调整编程区域；将所述修复编码写入所述存储器的软故障修复控制器，包括：