[发明专利]存储设备健康度检测方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种存储设备健康度检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测存储设备的特征参数，所述待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，所述特征参数包括所述总线接口、所述存储单元和所述控制单元中至少两部分的特征参数，所述特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；

根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，所述健康度衡量模型为根据所述特征参数预先建立的模型。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储单元的特征参数包括以下参数中的至少一个：

运行坏块数、出厂坏块数、原始比特错误率RBER和不可修复的错误比特率UBER。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述控制单元的特征参数包括以下参数中的至少一个：

温度预警时间、所述控制单元处理失败次数和异常状态处理次数。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述总线接口的特征参数包括以下参数中的至少一个：

数据传输错误次数和数据校验失败次数。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，包括：

根据所述特征参数，确定所述待检测存储设备中对应部分的磨损指标，所述磨损指标用于表征磨损程度；

根据所述磨损指标和所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数，确定所述待检测存储设备中对应部分的磨损指标，包括以下至少两项：

根据所述总线接口的特征参数，确定所述总线接口的磨损指标R₁，

根据所述控制单元的特征参数，确定所述控制单元的磨损指标R₂，

根据所述存储单元的特征参数，确定所述存储单元的磨损指标R₃，

其中，a₁、b₁和c₁的值是由训练模型R＝ae^bt+c基于总线接口的特征参数训练得到；a₂、b₂和c₂的值是由训练模型R＝ae^bt+c基于控制单元的特征参数训练得到，t表示时间；RBER表示原始比特错误数，Num_ab表示总比特读出数。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述磨损指标和所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，包括：

根据所述总线接口的磨损指标、所述控制单元的磨损指标和所述存储单元的磨损指标中至少两项，以及所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度之后，还包括：

根据所述待检测存储设备的健康度，对所述待检测存储设备进行筛选；

或者，根据所述待检测存储设备的健康度，提醒用户进行数据迁移或备份。

9.一种存储设备健康度检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测存储设备的特征参数，所述待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，所述特征参数包括所述总线接口、所述存储单元和所述控制单元中至少两部分的特征参数，所述特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；

确定模块，用于根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，所述健康度衡量模型为根据所述特征参数预先建立的模型。