[发明专利]一种微透镜掩模版及其制备方法有效
| 申请号: | 201910590015.0 | 申请日: | 2019-07-02 |
| 公开(公告)号: | CN110187599B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
| 发明(设计)人: | 王军;崔官豪;刘贤超;姬春晖;苟君 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
| 主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G02B3/00 |
| 代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 张巨箭 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 透镜 模版 及其 制备 方法 | ||
1.一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:
在衬底(1)上组装单层聚苯乙烯微球(2),形成第一样片;
在第一样片上涂布第一胶体(3),刻蚀第一胶体(3)以露出部分聚苯乙烯微球(2),形成第二样片;
去除第二样片上的聚苯乙烯微球(2),得到球形空腔模具;
在球形空腔模具填充第二光刻胶(5),并固化第二光刻胶(5);
分离第二光刻胶(5)和球形空腔模具,得到可重复使用的微透镜掩模版(8)。
2.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述在衬底(1)上组装单层聚苯乙烯微球(2)还包括:
在衬底(1)上形成紧密排布的聚苯乙烯微球(2);
刻蚀紧密排布的聚苯乙烯微球(2),得到非紧密排布的聚苯乙烯微球(2)。
3.根据权利要求2所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述在衬底(1)上形成紧密排布的聚苯乙烯微球(2)采用的是气液面组装法或旋涂法。
4.根据权利要求2所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述刻蚀紧密排布的聚苯乙烯微球(2)是采用的RIE刻蚀法,以减小聚苯乙烯微球(2)的直径。
5.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述第一胶体(3)具体为PMMA与氯仿的混合溶液胶体。
6.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述第二光刻胶(5)为高透明的高分子聚合物。
7.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述刻蚀第一胶体(3)是采用的IBE刻蚀(4)。
8.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述去除第二样片上的聚苯乙烯微球(2)步骤前还包括: 将第二样片放置在加热台上加热,恢复第一胶体(3)表面的平整性。
9.根据权利要求1所述的一种微透镜掩模版制备方法,其特征在于:所述去除第二样片上的聚苯乙烯微球(2)是采用环己烷配合超声波将聚苯乙烯微球(2)去除。
10.采用权利要求1-9任意一项所述的一种微透镜掩模版制备方法制备的微透镜掩模版,其特征在于:所述微透镜掩模版(8)包括基片(82)和若干表面为球面的第一微透镜(81),所述第一微透镜(81)和基片(82)是一体成型的,且所述第一微透镜(81)和所述基片(82)都采用的是高透明的高分子聚合物。
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G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备





