[发明专利]测量行星排横—扭耦合振动的方法

权利要求书

1.测量行星排横—扭耦合振动的方法，其特征在于包括以下步骤：

A、将待测的行星排安装在工作台上，行星排包括太阳轮(1)、行星架(2)、多个行星轮(3)和齿圈(4)，太阳轮(1)与多个环绕太阳轮(1)设置的行星轮(3)相啮合，每个行星轮(3)分别安装在一个行星轮轴(5)上，每个行星轮轴(5)分别安装在行星架(2)上，多个行星轮轴(5)的轴线彼此相互平行，多个行星轮(3)分别与齿圈(4)相啮合，齿圈(4)的外侧面为圆柱形；

B、在待测的行星排的太阳轮(1)上安装固定一个圆形的太阳齿轮轻质盘(6)，太阳齿轮轻质盘(6)的轴线与太阳轮(1)的重合，在待测的行星排的行星架(2)上安装一个圆环形的行星架轻质盘(7)，行星架轻质盘(7)的轴线与太阳轮(1)的重合，在待测的行星排的齿圈(4)上安装固定一个圆形的齿圈轻质盘(10)，齿圈轻质盘(10)的轴线与太阳轮(1)的重合，行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)、齿圈轻质盘(10)和齿圈(4)的外圆直径相同，行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面上分别设有多个凹槽(11)；

C、在行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面的上方分别设置第一位移传感器(8)，三个第一位移传感器(8)的探头沿竖直方向朝下指向对应的行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面，所述行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面上的多个凹槽(11)的底部分别位于对应的第一位移传感器(8)的探测范围之外；

在行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面的侧面分别设置第二位移传感器(9)，三个第二位移传感器(9)的探头沿水平方向指向对应的行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的外圆周面，所述行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的圆周面上的多个凹槽(11)的底部分别位于对应的第二位移传感器(9)的探测范围之外；

D、双向低速空载转动行星排的太阳轮(1)或行星架(2)或齿圈(4)，利用三个第一位移传感器(8)和三个第二位移传感器(9)检查行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)的外圆周面的圆跳度，利用NI试验数据采集系统上的Labview试验数据采集软件，对三个第一位移传感器(8)和三个第二位移传感器(9)的输出信号进行采集处理，同时通过三个第一位移传感器(8)的探头和三个第二位移传感器(9)的探头扫描到凹槽(11)时无法读取到凹槽(11)的底部位置产生的信号特征，记录下各个凹槽(11)的位置信息，通过分析分别获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)在低速空载转动条件下其轴心在与轴线垂直的平面上的初始二维坐标数据，以及获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)上的各个凹槽(11)在低速空载转动条件下未发生扭转变形的角位移坐标数据；

E、通过驱动装置加载驱动行星排的太阳轮(1)、行星架(2)和齿圈(4)转动，利用三个第一位移传感器(8)和三个第二位移传感器(9)获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈(4)的外圆周面的圆跳度，利用NI试验数据采集系统上的Labview试验数据采集软件，对三个第一位移传感器(8)和三个第二位移传感器(9)的输出信号进行采集处理，通过分析分别获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)在驱动装置加载驱动条件下其轴心在与轴线垂直的平面上的振动二维坐标数据，以及获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)上的各个凹槽(11)在驱动装置驱动加载条件下发生扭转振动的二维坐标数据，进而通过各个凹槽(11)的相对位置变化分别获得行星架轻质盘(7)、太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)在驱动装置驱动加载条件下的扭转振动位移数据。

2.根据权利要求1所述的测量行星排横—扭耦合振动的方法，其特征在于：所述行星架轻质盘(7)采用多个螺钉固定在行星架(2)，行星架轻质盘(7)采用铝合金制成，太阳齿轮轻质盘(6)和齿圈轻质盘(10)采用铝合金制成。

3.根据权利要求2所述的测量行星排横—扭耦合振动的方法，其特征在于：所述第一位移传感器(8)和第二位移传感器(9)分别通过支架固定在工作台上。