[发明专利]飞机头部机盖铆点缺陷检测方法、装置、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 201910551090.6 申请日: 2019-06-24
公开(公告)号: CN112132773A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 胡强;黄义镛 申请(专利权)人: 曜科智能科技(上海)有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/66;G06T3/00;G01N21/88
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 高彦
地址: 201203 上海市浦东新区中国*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 飞机 头部 机盖铆 点缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种飞机头部机盖铆点缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取飞机头部机盖一视角的图像数据,并通过2D图像处理获得对应所述飞机头部机盖上铆点的轮廓中心坐标;

依据所述轮廓中心坐标过滤杂质点,并选取出多个关键铆点;

将各所述关键铆点与所述飞机头部的机盖的3D模型上对应的所述铆点进行匹配,并将所述3D模型投影至所述2D图像上,以得各所述铆点的缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述2D图像处理方法包括:

对所述图像数据进行中值滤波、及拉普拉斯变换得到含有所述铆点边缘轮廓的处理图像;

对所述处理图像再次进行所述中值滤波,并进行二值化处理以得到所述处理图像中各所述铆点的轮廓;

依据各所述轮廓计算零阶矩和一阶矩以求得各所述铆点的轮廓中心坐标。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述拉普拉斯变换用于对所述图像数据中所述铆点的边缘进行检测,所述拉普拉斯变换计算公式为:

其中f为像素值关于坐标的变换函数,x为横坐标,y为纵坐标。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:若两个所述铆点的所述轮廓中心坐标的距离小于预设距离阈值;则以两个所述轮廓中心坐标的中心点替代这两个所述铆点的所述轮廓中心坐标。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述杂质点的过滤方法包括:

对应各所述铆点的轮廓面积预设一面积阈值范围;

过滤所述轮廓面积大于或小于所述阈值范围所对应的所述铆点。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将各所述关键铆点与所述飞机头部的机盖的3D模型上对应的所述铆点进行匹配,并将所述3D模型投影至所述2D图像上,以得各所述铆点的缺陷检测结果,包括:

将各所述关键铆点与所述3D模型上对应的所述铆点进行匹配,以计算所述3D模型投影到所述2D图像上的参数;

依据所述参数得到所述3D模型投影到所述2D图像上各所述铆点对应的投影坐标;

对同一所述铆点的投影坐标与其对应的所述轮廓中心坐标进行比较;

若坐标距离小于预设像素阈值,则判定该所述铆点正常;若坐标距离大于或等于预设像素阈值,则判定该所述铆点需要复检。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括:基于所述2D图像上的所述缺陷检测结果还能转换至所述飞机头部的机盖对应的3D模型中,以供直观展示。

8.一种电子装置,其特征在于,所述装置包括:

获取模块,用于获取飞机头部机盖一视角的图像数据,并通过2D图像处理获得对应所述飞机头部机盖上铆点的轮廓中心坐标;

处理模块,用于依据所述轮廓中心坐标过滤杂质点,并选取出多个关键铆点;将各所述关键铆点与所述飞机头部的机盖的3D模型上对应的所述铆点进行匹配,并将所述3D模型投影至所述2D图像上,以得各所述铆点的缺陷检测结果。

9.一种计算机设备,其特征在于,所述设备包括:存储器、处理器、及通信器;所述存储器用于存储计算机指令;所述处理器运行计算机指令实现如权利要求1至7中任意一项所述的方法;所述通信器用于与外部通信。

10.一种非暂时的计算机可读存储介质,其特征在于,存储有计算机指令,所述计算机指令被运行时执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。

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