[发明专利]画素阵列检测基板及制作方法、检测画素阵列基板的方法

说明书

一种画素阵列检测基板及其制作方法以及检测画素阵列基板的方法。所述种画素阵列检测基板，包括基板、画素阵列电路设置于所述基板上、绝缘保护层设置于所述画素阵列电路上、栅极驱动芯片及电压检测芯片电连接于所述画素阵列电路、以及微处理芯片电连接于所述电压检测芯片。所述画素阵列电路是以待测的画素阵列基板的掩模来制作。

【技术领域】

本揭示涉及显示技术领域，特别涉及一种画素阵列检测基板及其制作方法以及检测画素阵列基板的方法。

【背景技术】

目前检测画素阵列基板的主要方法有三种。第一种方法使用电子束激发画素电极并检测反射的二次电子束。这种方式每次检测时均需要将检测腔抽真空，需要花较长的时间。

第二种方法使用具有液晶材料的探头，探头中的液晶分子受画素电极的电场偏转而使光线通过，经反射镜反射至电荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)图像传感器形成图像。受到CCD的分辨率影响，待测的画素电极不能太小，且反射镜易受粒子污染或刮伤。

第三种方法使用直接搭接检测芯片的方式进行检测，但是随着显示器的分辨率大幅提高，待测线路大幅增加，使得测试通道不够用，且搭接难度提高。

【发明内容】

为解决上述技术问题，本揭示的一目的在于提供一种画素阵列检测基板及其制作方法以及检测画素阵列基板的方法，实现低成本、高精度且高效率的检测，检测基板容易更换维护。

为达成上述目的，本揭示提供一种画素阵列检测基板，包括基板、画素阵列电路设置于所述基板上、绝缘保护层设置于所述画素阵列电路上、栅极驱动芯片电连接于所述画素阵列电路、电压检测芯片电连接于所述画素阵列电路以及微处理芯片电连接于所述电压检测芯片。所述画素阵列电路是以待测的画素阵列基板的掩模来制作。

于本揭示的一实施例中，所述绝缘保护层具有平坦的表面。

于本揭示的一实施例中，所述画素阵列电路具有与待测的画素阵列基板相同结构的画素电极与晶体管电路。

于本揭示的一实施例中，所述画素阵列电路具有多条栅极线与多条数据线。所述栅极驱动芯片电连接于所述多条栅极线。所述电压检测芯片电连接于所述多条数据线。

本揭示还提供一种画素阵列检测基板的制作方法，包括下列步骤：

提供基板；

于所述基板上制作画素阵列电路；

提供绝缘保护层设置于所述画素阵列电路上；

提供栅极驱动芯片电连接于所述画素阵列电路；

提供电压检测芯片电连接于所述画素阵列电路；以及

提供微处理芯片电连接于所述电压检测芯片。所述画素阵列电路是以待测的画素阵列基板的掩模来制作。

于本揭示的一实施例的画素阵列检测基板的制作方法，其中，提供绝缘保护层设置于所述画素阵列电路上的步骤还包括对绝缘保护层进行表面平坦化的步骤。

于本揭示的一实施例的画素阵列检测基板的制作方法，其中，于所述基板上制作画素阵列电路的步骤中，还包括于所述基板上制作与待测的画素阵列基板相同结构的画素电极与晶体管电路的步骤。

于本揭示的一实施例的画素阵列检测基板的制作方法，其中，所述画素阵列电路具有多条栅极线，提供栅极驱动芯片电连接于所述画素阵列电路的步骤中，还包括将所述栅极驱动芯片电连接于所述多条栅极线的步骤。

于本揭示的一实施例的画素阵列检测基板的制作方法，其中，所述画素阵列电路具有多条数据线，提供电压检测芯片电连接于所述画素阵列电路的步骤中，还包括将所述电压检测芯片电连接于所述多条数据线的步骤。