[发明专利]一种非接触式多尺度裂纹识别方法有效

专利信息
申请号: 201910389444.1 申请日: 2019-05-10
公开(公告)号: CN110111321B 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 李浪;王清远;刘永杰;董江峰 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194
代理公司: 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 代理人: 王育信
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 尺度 裂纹 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种非接触式多尺度裂纹识别方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)采集待检测物体表面图像数据;

(2)将图像转换为N位深度的灰度图片,N为8的倍数;

(3)设定阈值,并以此对图片的所有像素点进行阈值处理,使裂纹与背景区分开,此时裂纹亮度为A,背景亮度为B;

(4)在步骤(3)基础上再在图片中任意选取至少一个局部区域,设定局部阈值,然后以此对选取的局部区域进行处理,剔除背景中的污斑,使裂纹与背景更好地区分开来;该步骤中,采用局部阈值处理时,局部窗口沿着图像的行和列按照设定的步长移动,步长小于局部窗口的尺寸;

(5)对图像中的独立裂纹进行提取,其提取过程如下:

(a)提取图像中的任意一个像素点;

(b)判断该像素点的亮度是否等于A,是,则以此像素点作为独立裂纹提取起始点,执行步骤(c);否,则继续提取第二个像素点并进行判断,直至获得亮度为A的像素点,然后以此作为独立裂纹提取起始点并执行步骤(c);

(c)将该像素点存入用于存放独立裂纹的矩阵Is和集合Sd中;

(d)对集合Sd中存放的像素点周围的N个像素点进行探测,将其中亮度为A的像素点存入矩阵Is和集合St中,并将存入的像素点的亮度全部置为B,以免重复探测;

(e)将集合Sd中的像素点替换为集合St中的像素点,并重复执行步骤(d),直至集合Sd中不再探测到亮度为A的像素点时,确定一条完整的独立裂纹已被存放至矩阵Is中;

(f)提取下一个像素点,并循环步骤(b)~(e),直至获得图像中所有的独立裂纹,然后执行步骤(6);

(6)对矩阵Is中的独立裂纹进行噪点过滤,判断出其中的真裂纹;

(7)将所有的真裂纹组装,获得最终的裂纹图像,并输出该裂纹图像。

2.根据权利要求1所述的一种非接触式多尺度裂纹识别方法,其特征在于,在输出裂纹图像的同时,还对该裂纹图像中的所有独立裂纹分别进行几何特征分析,并输出裂纹几何信息;所述的独立裂纹几何特征包括裂纹的面积Ac、长度lc、平均宽度wa,其中:

面积Ac根据获取的独立裂纹总像素点个数确定;

平均宽度wa由如下公式计算得到:

wa=Ac/lc

长度lc的计算过程如下:

(a)对裂纹进行几何形态处理,获得像素宽为1的裂纹骨架;

(b)分析裂纹骨架,确定其分支点和终止点;

(c)判断分支点的个数是否大于0,是,则确认独立裂纹为有分支裂纹,执行步骤(d);否,则确认独立裂纹为无分支裂纹,执行步骤(g);

(d)从第一个分支点开始,依次沿此分支点出发的各个路径,将相应的裂纹长度计算出来,具体为:沿着某一路径计算长度时,逐个像素点计算长度,直至另一分支点或终止点时,该路径的长度计算结束;计算过长度的像素点亮度置为B,以避免重复计算;

(e)开始计算下一路径长度,当该分支点所有路径长度计算完成时,继续计算下一个分支点逐个路径的长度;当所有分支点所有路径长度计算结束时,执行步骤(f);

(f)将所有分支点所有路径的长度累加,得到独立裂纹的总长度;

(g)从某一终止点开始,逐个像素点计算长度,直至另一终止点,得到独立裂纹的长度。

3.根据权利要求2所述的一种非接触式多尺度裂纹识别方法,其特征在于,确定分支点和终止点个数的具体过程为:在裂纹骨架中,如果某个亮度为A的像素点周边的N个像素点中仅有一个亮度为A的像素点,则该像素点为裂纹的终止点;如果有三个或以上的亮度为A的像素点,则该像素点为裂纹的分支点。

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