[发明专利]一种平面轨迹测量装置及其安装、测量方法在审
申请号: | 201910238893.6 | 申请日: | 2019-03-27 |
公开(公告)号: | CN109945786A | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 夏仰球;周怡帆;刘兴宝;米良;滕强;杨川贵;唐强;陈衡;杜坤 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/26 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 伍星 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 小球 磁力杆 测量 平面轨迹 测量装置 旋转底座 磁力 测量杆 长光栅 磁力座 平面的 圆光栅 球窝 匹配 磁性接头 底座组件 记录测量 接头组件 平面光栅 一维位移 转动连接 固定套 工作台 球杆 精密 采集 | ||
1.一种平面轨迹测量装置,包括内部带有长光栅的测量杆(4),其特征在于,所述测量杆(4)的两端分别连接小球Ⅰ(3)、小球Ⅱ(5),还包括与小球Ⅰ(3)相连的运动接头组件、与小球Ⅱ(5)相连的底座组件;
所述运动接头组件包括用于连接在运动部件上的磁力座(1)、连接在磁力座(1)下方的磁力接头(2),所述磁力接头(2)的底部具有与小球Ⅰ(3)相匹配的球窝,所述小球Ⅰ(3)与磁力接头(2)的球窝靠磁性吸附;
所述底座组件包括设置在固定部件上的旋转底座(8)、转动连接在旋转底座(8)上的磁力杆(6)、固定套设在磁力杆(6)外的圆光栅(7),所述磁力杆(6)的顶部具有与小球Ⅱ(5)相匹配的球窝,所述小球Ⅱ(5)与磁力杆(6)的球窝靠磁性吸附。
2.根据权利要求1所述的一种平面轨迹测量装置,其特征在于,所述磁力座(1)与磁力接头(2)之间通过球铰连接。
3.根据权利要求1所述的一种平面轨迹测量装置,其特征在于,所述测量杆(4)上固定连接加长杆(11),所述加长杆(11)与测量杆(4)同轴,所述小球Ⅰ(3)连接在加长杆(11)上。
4.根据权利要求1所述的一种平面轨迹测量装置,其特征在于,还包括套设在磁力杆(6)外的轴承(12),所述轴承(12)位于圆光栅(7)下方。
5.根据权利要求1所述的一种平面轨迹测量装置,其特征在于,还包括与所述长光栅、圆光栅(7)相连的数据采集系统(9),所述数据采集系统(9)采集长光栅、圆光栅(7)的读数信息,并通过无线通讯传输到数据分析系统(10)。
6.权利要求1至5中任一所述的一种平面轨迹测量装置的安装方法,其特征在于,包括以下步骤:
(a)校准:校准内部带有长光栅的测量杆(4);
(b)安装:将磁力座(1)通过磁力吸附在被测主轴上,将旋转底座(8)固连在工作台上;
(c)调整:通过磁力接头(2)的底部球窝吸附调节小球,缓慢调整被测主轴和旋转底座(8)之间的距离,直到磁力杆(6)的顶部球窝完全吸附住调节小球,此时固定磁力接头(2)与磁力座(1)的相对位置;再将精密小球Ⅰ(3)和精密小球Ⅱ(5)通过磁力分别吸附于磁力接头(2)和磁力杆(6)的球窝内,完成安装。
7.根据权利要求6所述的一种平面轨迹测量装置的安装方法,其特征在于,其中步骤(a)的校准方法为:
在初始状态下读取高精度长光栅读数a1;
采用校准规对测量杆进行校准,校准后长光栅的读数为a2,此时测量杆(4)的长度为L;
再连接长度为L1加长杆,读取此时长光栅的读数为a3;
得到校准后测量杆(4)的实际长度R=L1+(a3-a1)+L。
8.基于权利要求1至5中任一所述的一种平面轨迹测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
(A)完成安装,使机床处于无负载状态;
(B)在被测轨迹的起始和结束端加入角度越程,同步进行长光栅与圆光栅(7)的数据采集;
其中长光栅的数据采集在开始采样数据前通过切入运动触发采集,在起点前的越程之前设置沿径向的切入运动,激活长光栅进行数据采集;在退出时同样设置沿径向的切出运动,结束采样;
其中圆光栅(7)的数据采集在开始测量前进行调零;
(C)根据采集的起始角度、结束角度、检测半径,编制数控程序,确定机床坐标系;
(D)机床试运行,试运行后,将机床回到切入运动前的位置,机床暂停;然后将经过长度校准后的测量杆(4)放置底座组件与运动接头组件之间进行正向运动数据采集;
(E)重复步骤(B)~(D),进行反向运动数据采集;
(F)通过所采集的正向运动数据、反向运动数据计算平面轨迹精度。
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