[发明专利]测试和测量管理在审

专利信息
申请号: 201910187834.0 申请日: 2019-03-13
公开(公告)号: CN110275054A 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: J.P.P.维姆 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R13/00 分类号: G01R13/00;G01R35/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 高苇娟;申屠伟进
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 被测设备 测量 测量管理 请求队列 测试 处理器 测量仪器 请求模块 光开关 配置 指令 关联
【说明书】:

一种测试和测量管理设备,包括用来接收来自请求模块的请求的请求队列以及一个或多个处理器,所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量。所述一个或多个处理器被配置成从所述请求队列接收所述请求,基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令,从所述请求确定所请求的测量,并且基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。

优先权

本公开要求2018年3月13日提交的题为“MULTI-LANE SERIALIZED SIGNALACQUISITION”的美国临时申请号62/642,008的权益,所述美国临时申请被通过引用整体地结合于本文中。

技术领域

本公开针对与测试和测量系统相关的系统和方法,并且特别地涉及具有用来将多个被测设备连接到测试和测量仪器的光开关(optical switch)以及用来控制测试和测量系统通过所述开关从每个被测设备取回测量结果的测试和测量设备的测试和测量管理系统。

背景技术

存在许多环境,诸如制造环境,其可能需要测量来自多个被测设备的信号以确定被测设备如何在环境内执行。传统上,这可以通过使用取样示波器并将每个被测设备连接到取样示波器的不同通道来完成。这也可以通过将每个被测设备连接到不同的取样示波器来完成。

图1是传统测试和测量系统的框图,其中在制造环境中表征光信号。取样示波器100具有四个通道102。每个通道102连接到相应的被测设备(DUT)104。取样示波器100可以连接到测试处理器106,测试处理器106与图示的四个DUT 104中的至少一个相关联。取样示波器100的每个通道102包括高成本的光电(O/E)转换器108。将具有O/E转换器108的通道添加到取样示波器可能是代价高的。

由于取样示波器还必须能够访问同步到被测量的数据的时钟。可以使用时钟恢复模块来确定时钟,或者可以由用户提供子速率时钟。然而,如果每个DUT的数据速率不同,则由于必须被同步到数据的不同时钟,可能有必要使用多个取样示波器,而不是一个取样示波器的多个通道,这可能是代价高的。

本公开的实施例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

参考附图从对实施例的以下描述,本公开的实施例的各方面、特征和优点将变得显而易见,在所述附图中:

图1图示了用于测量来自多个被测设备的光信号的常规测试和测量系统的框图。

图2图示了根据本公开的一些实施例的用于测量来自多个被测设备的光信号的测试和测量系统的框图。

图3是图示图2的测试和测量系统的操作的流程图。

图4是具有校准设备的测试和测量系统的框图。

图5是图示图4的测试和测量系统的操作的流程图。

具体实施方式

本文中公开了一种测试和测量系统,其具有测试和测量管理模块,用来控制测试和测量系统的各种组件。测试和测量管理模块可以从请求设备接收对测量的请求。测试和测量管理设备可以包括请求队列,用来接收该请求并将该请求存储在请求队列中。测试和测量管理设备可以包括一个或多个处理器,用来接收该请求,并且基于该请求来生成并向测试和测量仪器发送用来将它本身配置成基于该请求从被测设备采取测量的指令。此外,测试和测量管理设备可以生成并向光开关发送用来选择与在请求中标识的被测设备相关联的端口的指令。这样的系统允许待测试的若干设备经由光开关连接到测试和测量仪器的单个输入通道,而不是必须将每个被测设备连接到测试和测量仪器的单独通道或连接到各个测试和测量仪器。

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