[发明专利]测试和测量管理在审
| 申请号： | 201910187834.0 | 申请日： | 2019-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN110275054A | 公开（公告）日： | 2019-09-24 |
| 发明（设计）人： | J.P.P.维姆 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R13/00 | 分类号： | G01R13/00;G01R35/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 高苇娟;申屠伟进 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 被测设备 测量 测量管理 请求队列 测试 处理器 测量仪器 请求模块 光开关 配置 指令 关联 | ||
1.一种测试和测量管理设备，包括：
请求队列，用来接收来自请求模块的请求，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量；以及
一个或多个处理器，其被配置成：
从所述请求队列接收所述请求，
基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令，
从所述请求确定所请求的测量，并且
基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。
2.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的衰减器的指令。
3.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的放大器的指令。
4.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求包括优先级信息，并且一个或多个处理器还被配置成基于所述优先级信息将所述请求放置在所述请求队列中。
5.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求队列是先进先出请求队列。
6.根据权利要求1所述的测试和测量管理设备，其中所述请求包括所述测量的期望持续时间、触发器指示符、去嵌入参数或配置参数中的至少一个。
7.一种用于操作测试和管理系统的方法，所述方法包括：
从请求队列接收请求，所述请求包括被测设备的标识和所请求的测量；
基于所述被测设备的标识来生成用来命令光开关选择与所述被测设备相关联的端口的命令；
从所述请求确定所请求的测量；以及
基于所请求的测量和所述被测设备的标识来生成用来将测试和测量仪器配置成执行所请求的测量的指令。
8.根据权利要求7所述的方法，其中一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的衰减器的指令。
9.根据权利要求7所述的方法，其中一个或多个处理器还被配置成基于所述被测设备的标识或所请求的测量中的至少一个来生成用来配置被连接到所述光开关和所述测试和测量仪器的放大器的指令。
10.根据权利要求7所述的方法，其中所述请求包括优先级信息，并且一个或多个处理器还被配置成基于所述优先级信息将所述请求放置在所述请求队列中。
11.根据权利要求7所述的方法，其中所述请求队列是先进先出请求队列。
12.根据权利要求7所述的方法，其中所述请求包括所述测量的期望持续时间、触发器指示符、去嵌入参数或配置参数中的至少一个。
13.根据权利要求7所述的方法，还包括接收校准信号并基于所述校准信号确定至少一个校准参数。
14.根据权利要求13所述的方法，还包括存储与所述光开关的所选端口相关联的所述至少一个校准参数。
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