[发明专利]一种试卷批改方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供了一种试卷批改方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：获得标准试卷的第一图像；识别第一图像中各个标准答案的区域以及字符，并使用标注框标注出各个标准答案所在的作答区域；确定每个标注框的位置信息；获得待批改试卷的第二图像；根据第一图像的每个标注框的位置信息，确定第二图像中与该标注框的位置相匹配的作答区域，并对所确定的作答区域进行标注框标注；识别第二图像的各个标注框内待批改答案的字符；将第一图像中每一标注框内标准答案的字符与第二图像中相对应的标注框内待批改答案的字符进行比较，完成对待批改试卷的批改。应用本发明提供的方案可以解决现有技术中老师批改试卷效率较低的问题。

技术领域

本发明涉及教学及信息处理技术领域，尤其涉及一种试卷批改方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

目前，老师大多以试卷的形式给学生布置作业，以及测验学生的学习效果，这也就导致了老师们需要批改大量的学生试卷。然而现有技术中，老师批改试卷的方式也都比较传统，通常是基于手写的方式批改，这种方式效率普遍低下而且也容易出错，例如，如果一个老师每天要批改60个同学的试卷，每个同学批改5分钟，每天需要工作5个小时。

因此，如何提高老师批改试卷的效率是一个亟待解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种试卷批改方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，以解决现有技术中老师批改试卷效率较低的问题。

为达到上述目的，本发明提供了一种试卷批改方法，所述方法包括：

获得标准试卷的第一图像，其中，所述标准试卷中的作答区域填写有标准答案；

通过预先训练的识别模型识别所述第一图像中各个标准答案的区域以及各个标准答案的字符，并使用标注框标注出各个标准答案所在的作答区域；

确定每个作答区域对应的标注框的位置信息；

获得待批改试卷的第二图像，其中，所述待批改试卷中的作答区域填写有待批改答案；

根据所述第一图像的每个作答区域对应的标注框的位置信息，确定所述第二图像中与该作答区域对应的标注框的位置相匹配的作答区域，并对所确定的作答区域进行标注框标注；

通过所述预先训练的识别模型，识别所述第二图像的各个标注框内待批改答案的字符；

将所述第一图像中每一作答区域对应的标注框内标准答案的字符与所述第二图像中相对应的作答区域对应的标注框内待批改答案的字符进行比较，完成对所述待批改试卷的批改。

可选的，所述确定每个作答区域对应的标注框的位置信息，包括：

对所述第一图像建立第一二维坐标系，确定每个作答区域对应的标注框在所述第一二维坐标系中的位置信息；

所述根据所述第一图像的每个作答区域对应的标注框的位置信息，确定所述第二图像中与该作答区域对应的标注框的位置相匹配的作答区域，包括：

对所述第二图像建立第二二维坐标系，针对所述第一图像的每个作答区域对应的标注框，确定所述第二图像中的、在所述第二二维坐标系中的位置信息与该作答区域对应的标注框在所述第一二维坐标系中的位置信息相匹配的作答区域；

其中，所述第二二维坐标系与所述待批改试卷之间的对应关系与所述第一二维坐标系与所述标准试卷之间的对应关系相同。

可选的，标注框在所述第一二维坐标系中的位置信息包括：标注框的中心点坐标、标注框的高度和长度。

可选的，所述确定每个作答区域对应的标注框的位置信息，包括：

识别所述第一图像中所述标准试卷的各个题目所在区域，并进行标注框标注；