[发明专利]一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法和系统在审
申请号: | 201910028116.9 | 申请日: | 2019-01-11 |
公开(公告)号: | CN109631875A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 楚明磊;董泽华;张浩;陈丽莉;王雪丰;孙玉坤;赵斌 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00;G01C1/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器姿态 测量 融合 姿态误差 机器视觉 姿态测量 优化 预设 计算机存储介质 比对基准 测量参数 基准调整 基准确定 空间目标 所述空间 运动过程 姿态数据 比对 | ||
本发明公开了一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法、系统和计算机存储介质,所述方法包括:利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态;利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态;将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。本发明提供的实施例能够解决姿态融合测量方法优化过程中姿态数据没有比对基准的问题,尤其在运动过程中以机器视觉姿态测量方法获得的第一姿态姿为基准确定传感器姿态融合测量方法存在的问题并进行优化。
技术领域
本发明涉及姿态融合技术领域,特别是涉及对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法、系统和计算机存储介质。
背景技术
在传感器姿态融合测量方法的设计过程中,姿态融合测量方法的结果往往缺少评估的客观标准,尤其是在运动的过程中,目前现有的做法是通过人的主观判断所述融合结果是否正确,如此就会为测量方法的设计以及数据结果的评价造成较大的困难。
发明内容
为了解决上述问题至少之一,本发明第一方面提供一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法,包括:
利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态;
利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态;
将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。
进一步的,所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括获得多个第一姿态;
所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括获得与所述多个第一姿态相对应的多个第二姿态;
若检测到的多个姿态误差随时间逐渐增加,则确定所述姿态融合测量方法存在零点漂移。
进一步的,所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括获得多个第一姿态;
所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括获得与所述多个第一姿态相对应的多个第二姿态;
若检测到在所述多个第一姿态的极值和多个第二姿态的极值处存在姿态误差,则确定所述姿态融合测量方法存在极值点误差。
进一步的,所述多个第一姿态和多个第二姿态以曲线形式显示。
进一步的,所述利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态包括通过图像采集装置在不同时刻对所述空间目标上的标记进行图像采集从而获得多个第一姿态;
所述利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态包括通过设置在所述空间目标上的传感器在对应时刻对所述空间目标进行采集从而获得多个第二姿态。
进一步的,所述将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差进一步包括:
统一所述第一姿态和第二姿态的数据格式;
将所述第一姿态和第二姿态转换到同一坐标系中;
比对所述第一姿态和第二姿态并计算姿态误差。
进一步的,所述通过图像采集装置在不同时刻对所述空间目标上的标记进行图像采集从而获得多个第一姿态进一步包括:
标定所述图像采集装置;
接收所述图像采集装置采集的所述标记的二维图像;
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