[发明专利]改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法在审

专利信息
申请号: 201910014695.1 申请日: 2019-01-08
公开(公告)号: CN109830431A 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 韩继武;郑刚 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01L21/266
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 离子 光刻胶 离子注入机 注入效率 靶盘 束流 标准离子 表面碳化 表面形成 后序阶段 析出 低剂量 分阶段 室内部 碳化层 注入腔 中断 恢复
【权利要求书】:

1.一种改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的离子注入为分阶段注入,首先进行注入束流及剂量均小于标准值的离子注入,然后再恢复到标准离子注入参数进行离子注入,直至离子注入完成。

2.如权利要求1所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的离子注入,以光刻胶为掩膜,在离子束流轰击到光刻胶时,使光刻胶中的水分及挥发性气体进入离子注入腔室,影响离子注入腔室的真空度,引起outgas效应,使离子注入效率降低,甚至中断。

3.如权利要求2所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:离子注入腔室内部的压力设置有压力容差值,使离子注入能在内部压力存在一定的波动范围内进行;当离子注入腔室内部压力超过压力容差值时,离子注入会被中断,直到离子注入腔室内部压力恢复到压力容差值范围内,离子注入再继续进行。

4.如权利要求1所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的分阶段注入,在进行小于标准值的离子注入时,首先将离子注入束流限制在标准值的50%以内,注入剂量限制在标准值的25%以内。

5.如权利要求4所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的小于标准值的离子注入,低束流及低剂量的离子注入,能有效减轻光刻胶中的成分析出,同时还能在光刻胶的表面形成碳化层,降低光刻胶的outgas效应,避免注入的初始阶段离子注入腔室内部真空度较差的状态发生。

6.如权利要求1所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的标准参数的离子注入,是将离子束流恢复到标准值,离子注入剂量是完成剩余的75%以上的注入剂量。

7.如权利要求1或5所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的分阶段注入,由于前序的小于标准值的离子注入已经降低了光刻胶的outgas效应,以及表面碳化层的作用,在进行后序阶段的标准值的离子注入时,真空度低于压力容差值,能实现离子注入的持续进行而不会被中断。

8.如权利要求1或4所述的改善靶盘式离子注入机注入效率的工艺方法,其特征在于:所述的小于标准值的离子注入,具体的离子注入束流及离子注入剂量,能依据实际工艺环境需求进行调整,取得最佳的工艺指标。

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