[发明专利]用于检查系统的检测器和方法

说明书

在一个实施方式中，提供了一种用于检查系统的检测器(1)，包括：至少一个第一闪烁体(3)，所述第一闪烁体被配置为响应于与检查辐射脉冲(5)的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线(6)；至少一个第二闪烁体(4)，所述第二闪烁体被配置为响应于与所述检查辐射脉冲(5)的相互作用，在不同于所述第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线(7)；以及至少一个第一传感器(8)，所述第一传感器被配置为测量所述第一光线(6)而不是所述第二光线(7)。

技术领域

本公开涉及扫描装置和方法，并且涉及例如通过成像检测隐藏在货物中的物体。

背景技术

检查系统使用检查辐射来检查货物(例如车辆)，例如以检测隐藏的物体(例如武器或危险材料)。

在已知的检查系统中使用的检测器通常产生相对较大的信号，使得从该信号得出的图像可以具有令人满意的对比度。但是，分辨率可能并不总是最佳的。

本发明的各方面解决了一些上述问题。

发明内容

本公开的方面和实施方式，诸如在所附权利要求中阐述的那些，旨在解决上述技术问题和相关技术问题。

附图说明

现在将参照附图仅以示例的方式描述本公开的实施方式，其中：

图1A以透视图示出了示例性检测器；

图1B以俯视图示出了图1A的示例性检测器；

图2示出了从后侧观察的示例性检查系统；

图3A以正视图示出了示例性检测器；

图3B以正视图示出了另一示例性检测器；

图3C以透视图示出了示例性检测器；

图4A以侧视图示出了示例性第一传感器；

图4B以侧视图示出了示例性第二传感器；

图5A以透视图示出了示例性检测器；

图5B以俯视图示出了图5A的示例检测器；

图6以透视图示出了示例性检测器；

图7示出了示出根据本公开的示例性方法的流程图；以及

图8以正视图示出了示例性检测阵列。

在附图中，相同的元件用相同的附图标记表示。

具体实施方式

概述

图1A和1B示出了检测器1的示意图。如图2所示，所述检测器1适合与检查系统2一起使用，例如用于检查货物20。

检测器1包括至少一个第一闪烁体(scintillator)3，该第一闪烁体3被配置为响应于与检查辐射脉冲5的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线6。

作为非限制性示例，所述检查辐射可以包括X射线辐射。在一些示例中，可以通过将连续的检查辐射脉冲传输通过要检查的货物20来执行所述检查。

所述检测器1包括至少一个第二闪烁体4，该第二闪烁体4被配置为响应于与所述检查辐射脉冲5的相互作用，在不同于第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线7。

所述检测器1还包括至少一个第一传感器8，该第一传感器8被配置为测量(例如，感测和/或获取)所述第一光线6，而不是所述第二光线7(例如，该第一传感器8被配置为对所述第二光线7不敏感和/或不获取所述第二光线7)。