[发明专利]用于检查系统的检测器和方法

权利要求书

1.一种用于检查系统的检测器，包括：

至少一个第一闪烁体，所述第一闪烁体被配置为响应于与检查辐射脉冲的相互作用而在第一波长域中重新发射第一光线；

至少一个第二闪烁体，所述第二闪烁体被配置为响应于与所述检查辐射脉冲的相互作用，在不同于所述第一波长域的第二波长域中重新发射第二光线；以及

至少一个第一传感器，所述第一传感器被配置为测量所述第一光线而不是所述第二光线。

2.根据权利要求1所述的检测器，其中所述至少一个第一传感器包括第一滤波器，所述第一滤波器被配置为使所述第一波长域通过并抑制所述第二波长域。

3.根据权利要求1或2所述的检测器，还包括：

至少一个第一传感器，所述第一传感器被配置为测量至少所述第二光线。

4.根据权利要求3所述的检测器，其中所述至少一个第二传感器被配置为不测量所述第一光线。

5.根据权利要求4所述的检测器，其中所述至少一个第二传感器包括第二滤波器，所述第二滤波器被配置为使所述第二波长域通过并抑制所述第一波长域。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的检测器，其中所述至少一个第一传感器和/或所述至少一个第二传感器包括光电二极管。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检测器，其中所述第一闪烁体包括有机和/或无机材料，和/或所述第二闪烁体包括有机和/或无机材料。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的检测器，其中所述第一闪烁体包括一个或多个波长移位器，和/或所述第二闪烁体包括一个或多个波长移位器。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的检测器，其中在与平行于所述检查辐射的传播平面的方向上延伸的所述第一闪烁体和/或第二闪烁体的深度的延伸方向相横向的方向上，所述检测器的尺寸Δ是：

1mm≤Δ≤5mm。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的检测器，其中所述至少一个第二闪烁体与所述至少一个第一闪烁体相邻，所述检测器在横向于所述第一闪烁体和/或第二闪烁体的所述深度的所述延伸方向的平面上具有正方形形状。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的检测器，其中沿着所述第一闪烁体的深度和/或沿着所述第二闪烁体的深度，所述至少一个第一传感器和所述至少一个第二传感器位于所述至少一个第一闪烁体和/或所述至少一个第二闪烁体的至少一侧上，所述第一闪烁体和/或第二闪烁体的深度在平行于所述检查辐射的传播平面的方向上延伸。

12.根据权利要求1至11中的任一项所述的检测器，包括位于两个第二闪烁器之间的一个第一闪烁器，并且其中

所述第一闪烁体在横向于所述第一闪烁体和/或所述第二闪烁体的所述深度的方向上的尺寸e1是：

0.5mm≤e1≤3.5mm，且

每个所述第二闪烁体在横向于所述第一闪烁体和/或所述第二闪烁体的所述深度的所述方向上的尺寸e2是：

1mm≤e2≤4.5mm。

13.根据权利要求1至11中的任一项所述的检测器，包括与一个第二闪烁器相邻设置的一个第一闪烁器，并且其中

所述第一闪烁体在横向于所述第一闪烁体和/或所述第二闪烁体的所述深度的方向上的尺寸e1是：

0.5mm≤e1≤3.5mm，

所述第二闪烁体在横向于所述第一闪烁体和/或所述第二闪烁体的所述深度的所述方向上的尺寸e2是：

1mm≤e2≤4mm，且

e2≥e1。

14.根据权利要求1至13中的任一项所述的检测器，其中所述至少一个第一闪烁体具有折射率，并且所述至少一个第二闪烁体的折射率基本等于所述第一闪烁体的所述折射率。