[发明专利]无人飞行器在审
申请号: | 201880012823.2 | 申请日: | 2018-05-01 |
公开(公告)号: | CN110337585A | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 青山朋树;中村龙人 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;B64C13/20;B64C27/08;B64C39/02 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 李成必;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量对象 无人飞行器 荧光X射线分析 荧光X射线检测 飞行器主体 荧光X射线 照射X射线 测距装置 空中移动 照射 测量 检测 | ||
本发明提供一种无人飞行器,能够在空中移动并对规定的测量对象进行荧光X射线分析,所述无人飞行器的特征在于包括:飞行器主体;荧光X射线分析装置,具有:X射线照射装置,与所述飞行器主体连接,向所述测量对象照射X射线;以及荧光X射线检测装置,检测通过所述X射线的照射从所述测量对象产生的荧光X射线;以及测距装置,测量所述测量对象与所述荧光X射线检测装置之间的距离。
技术领域
本发明涉及一种能够在空中移动并对规定的测量对象进行荧光X射线分析的无人飞行器。
背景技术
以往,作为用于进行试样分析的装置利用向试样照射一次X射线来对组成进行分析的荧光X射线分析装置。荧光X射线分析装置利用检测器检测向试样照射一次X射线时产生的荧光X射线(二次X射线),能够根据检测到的荧光X射线的光谱分布等,进行包含在试样中的元素的确定和该元素的浓度计算等。
作为荧光X射线分析装置例如开发并普及了在专利文献1中公开的可移动的荧光X射线分析装置,用于应对如下需求:想要由荧光X射线分析装置分析不能进入试样室的大型试样或不能进行取样的试样,以及想要在制造现场或发掘现场等现场容易地对工业产品或考古学试样等多种试样进行荧光X射线分析。
但是,尽管开发并普及了这种可移动的荧光X射线分析装置,但是例如在海拔高的山的地表面或放射线量高的地域,操作员难以直接前往现场来进行荧光X射线分析。在引用文献2中公开了在气球或飞机等飞行器中搭载荧光X射线分析装置等测量装置,但是其捕获悬浮在空中的颗粒状物质并进行元素分析,而不能精度良好地进行地表面等的元素分析。
现有技术文献
专利文献1:日本专利公开公报特开2010-197229号
专利文献2:日本专利公开公报特开2003-315244号
发明内容
鉴于上述问题,本发明的目的在于提供一种无人飞行器,即使在人难以进入的场所也能够精度良好地进行荧光X射线分析。
本发明提供一种无人飞行器,能够在空中移动并对规定的测量对象进行荧光X射线分析,所述无人飞行器的特征在于包括:飞行器主体;荧光X射线分析装置,具有:X射线照射装置,与所述飞行器主体连接,向所述测量对象照射X射线;以及荧光X射线检测装置,检测通过所述X射线的照射从所述测量对象产生的荧光X射线;以及测距装置,测量所述测量对象与所述荧光X射线检测装置之间的距离。
按照这种结构,即使例如海拔高的山的地表面,也能够使该无人飞行器接近并容易进行荧光X射线分析。此外,由于该无人飞行器的使用者自身不需要接近调查现场,所以即使在放射线量高的地域的调查中,也能够通过使不存在由暴露产生的健康危害风险的无人飞行器接近,进行精度更高的荧光X射线分析,而不存在使用者接近调查现场时产生的时间限制。
此外,在荧光X射线分析中,根据产生荧光X射线的测量对象与荧光X射线检测器之间的距离变动,检测的荧光X射线的光谱强度变动,但是在本发明中,由于能够利用测距装置来取得测量对象与荧光X射线检测装置之间的距离,所以能够基于取得的距离信息,对由荧光X射线分析得到的荧光X射线的光谱强度的变动进行修正。此外,能够基于取得的距离信息,将荧光X射线检测装置与测量对象之间的距离保持为固定。由此能够进行更准确的定量分析。
另外,在本说明书中,“测量对象与荧光X射线检测装置之间的距离”是指:为了通过运算来计算从测量对象产生的荧光X射线在大气中移动直到被荧光X射线检测装置检测为止的期间的荧光X射线的强度的衰减量所需要的距离。测量对象与荧光X射线检测装置之间的距离可以由测距装置直接测量,或者可以通过对测量对象与荧光X射线检测装置之间的距离以外的距离进行换算来间接测量。
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