[实用新型]用于功能薄膜的电学测试装置

权利要求书

1.一种用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：包括电极固定基座（1）、4个铜导线（2）、4个金属铟柱（3）、电压表（9）和电流表（11），所述电极固定基座（1）开有4个由上置物孔（7）和下置物孔（8）连接的安装通孔（10），所述铜导线位于下置物孔（8）内，所述金属铟柱（3）位于上置物孔（7）内并与铜导线（2）焊接连接，一压力机构（5）安装于电极固定基座（1）上，测试样品（4）上表面和下表面分别与压力机构（5）的下端和金属铟柱（3）接触；

第一双刀双掷开关（12）、第二双刀双掷开关（13）、第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）均包括2个动端、2个通路静端和2个断路静端；

所述第一双刀双掷开关（12）的第一动端、第二动端（121、122）分别通过导线与4个铜导线（2）中的2个铜导线（2）电连接，第一双刀双掷开关（12）的第一通路静端、第二通路静端（123、124）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的第五动端、第七动端（141、151）连接；

所述第二双刀双掷开关（13）的第三动端、第四动端（131、132）分别通过导线与4个铜导线（2）中的另2个铜导线电连接，第二双刀双掷开关（13）的第三通路静端、第四通路静端（133、134）分别与第三双刀双掷开关（14）和第四双刀双掷开关（15）的对应的第六动端、第八动端（142、152）连接；

所述电流表（11）跨接于第三双刀双掷开关（14）的第五通路静端（143）和第四双刀双掷开关（15）的对应的第七通路静端（153）之间，所述电压表（9）跨接于第三双刀双掷开关（14）的第六通路静端（144）和第四双刀双掷开关（15）的对应的第八通路静端（154）之间。

2.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述压力机构（5）包括弹簧柱塞（6），此弹簧柱塞（6）下端压在测试样品（4）的表面。

3.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述上置物孔（7）的高度为2~5mm，直径为0.4~0.6mm，所述下置物孔（8）的高度为3~6mm，直径为1.5~2.0mm。

4.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述上置物孔（7）的直径小于下置物孔（8）的直径。

5.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述铜导线（2）的外部套有外壳。

6.根据权利要求5所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：具有外壳的所述铜导线（2）的直径为1.5~2.0mm。

7.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述压力机构（5）向下压的压力大小在0.1~0.8N之间可控。

8.根据权利要求1所述的用于功能薄膜的电学测试装置，其特征在于：所述电极固定基座（1）的材质为聚四氟乙烯。