[实用新型]测试装置和测试系统有效
申请号: | 201821667004.5 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN208849775U | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
发明(设计)人: | 黄泓仁;王彦淳;朱镇国;刘伊浚 | 申请(专利权)人: | 台湾福雷电子股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试基座 测试装置 反射表面 容纳空间 反射器 界定 本实用新型 测试系统 非平行 发射 安置 | ||
本实用新型提供一种测试装置,其包含测试基座和反射器。所述测试基座界定容纳空间。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面。所述反射表面界定发射空间。
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置、一种测试系统和一种测试方法,且涉及用以使用非接触式技术(non-contact technique)来测试无线模块(wireless module)的一种测试装置、一种测试系统和一种测试方法。
背景技术
无线模块(例如:毫米波RF无线模块(mmWave RF wireless module))可以利用空中发射方式(over the air,OTA)来做测试。此种测试可在测试房间(testing room)(或测试室(testing chamber))中执行,其中(例如在其内部表面上)安置了多个吸收器。此种测试房间(或测试室)的体积相当大。举例来说,其大小可为6米(m)×6m×6m,或60厘米(cm)×60cm×60cm。另外,此种测试可能会花费很长时间。因此,此种测试可能不适合用以测试量产的装置,即,此种测试不适合做为大批量生产工艺或量产过程(mass productionprocess)中的一部分。
实用新型内容
根据一个方面,在一些实施例中,一种测试装置包含测试基座(testing socket)和反射器(reflector)。所述测试基座界定容纳空间(accommodating space)。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面。所述反射表面界定发射空间(transmission space)。
根据另一方面,在一些实施例中,一种测试装置包含测试夹具(testing fixture)和装置托座(device holder)。所述测试夹具界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口,且具有多个反射表面。所述反射表面界定所述第一开口与所述第二开口之间的发射空间。所述装置托座安置于所述发射空间中且界定上开口。所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分。所述装置托座的所述上开口对应于所述测试夹具的所述第一开口。所述第一信号发射部分和所述第二信号发射部分界定承接空间,且所述第二信号发射部分与所述上开口相对。
根据另一方面,在一些实施例中,一种测试系统包含测试装置、电路板和测试器(tester)。所述测试装置包含测试基座、反射器和装置托座。所述测试基座界定第一开口、与所述第一开口相对的第二开口,和所述第一开口与所述第二开口之间的容纳空间。所述反射器安置于所述容纳空间中且具有多个反射表面。所述装置托座安置于所述容纳空间中且界定用以容纳受测装置(device under test,DUT)的承接空间(receiving space)。所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分。所述电路板安置于所述测试基座的所述第一开口上方且经配置以电连接到所述DUT。所述测试器安置于所述测试基座的所述第二开口下且电连接到所述电路板。所述测试器包含对应于所述测试基座的所述第二开口的测试天线。
根据另一方面,在一些实施例中,一种测试方法包含:(a)提供测试板和DUT,所述DUT包含第一表面、与所述第一表面相对的第二表面,和邻近于所述第一表面的多个电接点;和(b)在所述DUT的所述第一表面上施加吸力,以使得所述DUT的所述电接点电连接到所述测试板。
附图说明
当结合附图阅读时,从以下详细描述易于理解本实用新型的一些实施例的方面。应注意,各种结构可能未按比例绘制,且各种结构的尺寸可出于论述清晰起见任意增大或减小。
图1说明根据本实用新型的一些实施例的测试装置的剖面图。
图2说明图1中所展示的测试装置的俯视图。
图3说明图1的测试装置的装置托座的剖面图。
图4说明图3中所展示的装置托座的立体图。
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