[实用新型]一种荧光X射线吸收谱探测器

说明书

本实用新型创造提供了一种荧光X射线吸收谱探测器，包括实验样品仓，实验样品仓前端设置两个一维狭缝结构，第二个一维狭缝结构与第一个一维狭缝结构成90°叠放，一维狭缝结构后端设置大面积半导体光电二极管探测器，一维狭缝结构包括铝框，铝框内安装有若干叶片，其中叶片的安装与焦点的射线方向重合，焦点为狭缝到样品的距离；大面积半导体光电二极管探测器包括铝壳体，光电二极管固定于铝壳体，并通过BNC信号引出插座输出电信号。本实用新型创造将两个一维狭缝结构成90°组合则具有二维狭缝的作用，提高了效荧光的通过效率；本实用新型创造探测效率高，检测灵敏度高，结构简单，制作简单，成本低。

技术领域

本发明创造属于物质结构分析仪器设备领域，尤其是涉及一种荧光X射线吸收谱探测器。

背景技术

图1为美国EXAFS公司生产的LYTLE型荧光X射线电离室探测器的结构示意图。其工作原理：当同步辐射X光束进入实验样品仓穿过固定于样品架上的样品，被入射X射线激发的样品产生特定的X射线荧光，该X射线荧光中包含携带样品结构的信息的成分，同时也包含干扰成分。为了提高信噪比，在探测器前设置了滤波片用以滤除干扰成分。但在X射线荧光作用下滤波片会发生二次荧光发射，成为新的干扰源。为了解决这一问题在滤波片后设置了一个二维狭缝，狭缝的焦点位于样品上，则由样品产生的荧光能最大程度的通过狭缝而到达探测器，但滤波片不在狭缝的焦点，所以很大程度被狭缝阻挡，不能通过。探测器设置在狭缝后边，该产品采用一种大接收面积的电离室做为探测器，用于将荧光X射线转换为电信号输出以便数据采集分析获得样品结构信息。

其基本结构由二维狭缝及大接收面积的电离室与弱电流信号放大器组成。两者的设计与制造都存在较大的难度，而且该设备的测量精度也存在提高的空间。

发明内容

有鉴于此，本发明创造旨在提出一种荧光X射线吸收谱探测器，以提高探测效率，以及检测的灵敏度。

为达到上述目的，本发明创造的技术方案是这样实现的：

一种荧光X射线吸收谱探测器，包括实验样品仓，实验样品仓前端设置两个一维狭缝结构，其中，第二个一维狭缝结构与第一个一维狭缝结构成90°叠放，一维狭缝结构后端设置大面积半导体光电二极管探测器，用于将光信号转换成电信号输出。

进一步的，所述一维狭缝结构包括铝框，所述铝框内安装有若干叶片，其中叶片的安装与焦点的射线方向重合，焦点为狭缝到样品的距离。

进一步的，所述叶片选用11片。

进一步的，所述大面积半导体光电二极管探测器包括铝壳体，光电二极管固定于铝壳体，并通过BNC信号引出插座输出电信号。

进一步的，所述光电二极管采用滨松S4276-02，有效面积为48×48mm。

相对于现有技术，本发明创造所述的一种荧光X射线吸收谱探测器具有以下优势：

(1)本发明创造将两个一维狭缝结构成90°叠放组合则具有二维狭缝的作用，提高了效荧光的通过效率；

(2)本发明创造利用大面积半导体光电二极管(滨松S4276-02)构成探测器，替代了大接收面积的电离室作为光电转换的探测器，具有更高的探测灵敏度，结构简单，制作工艺简单；

(3)本发明创造探测效率高，检测灵敏度高，结构简单，制作简单，成本低。

附图说明

构成本发明创造的一部分的附图用来提供对本发明创造的进一步理解，本发明创造的示意性实施例及其说明用于解释本发明创造，并不构成对本发明创造的不当限定。在附图中：

图1为本发明创造实施例所述的LYTLE型X射线荧光谱学探测器结构示意图；

图2为本发明创造实施例所述的光电二极管仓内部俯视图；