[实用新型]基于可弯曲光电二极管的探测器模块及探测器系统

说明书

本实用新型提供一种基于可弯曲光电二极管的探测器模块及探测器系统，包括：基板，至少基板的第一表面为弧面；第一可弯曲光电二极管像素阵列，包括若干个呈阵列排布的第一可弯曲光电二极管像素，第一可弯曲光电二极管像素弯曲为弧形贴置于基板的第一表面上；第一闪烁体像素阵列，包括若干个呈扇面形状、且呈阵列排布的第一闪烁体像素，第一闪烁体像素贴置于第一可弯曲光电二极管像素远离基板的表面；第一闪烁体像素的第一表面及第二表面均为弧面。本实用新型的结构可以保证射线源发出的射线可以等角度垂直入射到每一个闪烁体像素的表面，并且不会有像素之间的串扰信号，不会出现像素重叠带来的影响，使得信号更准确，图像分辨率更高。

技术领域

本实用新型光电探测技术领域，特别是涉及一种基于可弯曲光电二极管的探测器模块及探测器系统。

背景技术

在辐射探测的医学影像设备、安全检测影像设备、工业无损检测影像设备、食品及农产品安全分拣系统及其他辐射探测系统中，如果使用的是闪烁体探测介质，都需要基于硅的光电二极管来把闪烁体内被射线照射后产生的可见光转变为电信号，再由后续的电子学系统进行放大等处理和传输。

如图1所示为现有的一种平面探测器模块10，由图1可知，所述平面探测器模块10包括基板101、位于所述基板101表面的平面光电二极管像素102及位于所述平面光电二极管像素102表面的闪烁体像素103。如图2所示为现有的另一种平面探测器模块10，由图2可知，所述平面探测器模块10包括基板101、位于所述基板101表面的若干个平面光电二极管像素102及位于所述平面光电二极管像素102表面的若干个闪烁体像素103，所述平面光电二极管像素102在所述基板101表面呈线阵列排布或面阵列排布，且所述闪烁体像素103与所述平面光电二极管像素102一一对应设置。而当终端用户设备需要上述的所述平面探测器模块10排列呈一个弧形或圆弧时，就需要多个分段的所述平面探测器模块10拼接起来拼接成近似的弧形(如图3及图4所示)，其中，图3中多个所述平面探测器模块10于一L型的探测器主体11内排布成近似的弧形，图4中多个所述平面探测器模块10于一圆环形的探测器主体11内壁排布成近似的弧形。

又为了确保探测器的性能，需要尽量保证如图3及图4中所示的射线源12射出的射线入射到所述闪烁体像素103的表面时是垂直进入所述闪烁体像素103，所以每个所述平面探测器模块10的中心要正对射线入射的方向(需要说明的是，图3及图4中的箭头即表示射线入射的方向)。而实际上，对于如图3及图4所示的探测器而言，只有所述平面探测器模块10中心的那个所述闪烁体像素103可以保证射线的垂直入射，位于所述平面探测器模块10其它位置的所述闪烁体像素103上射线的入射方向与垂直入射的方向都有一定的角度。而非垂直入射的射线沿着斜向的入射方向有可能进入相邻的像素中产生信号，从而带来串扰。同时，相邻所述平面探测器模块10的拼接处，射线有时会同时穿过两个所述平面探测器模块10的边沿像素(需要说明的是，此处及后续所述的像素是指由一个所述平面光电二极管像素102与位于其表面的一个闪烁体像素103构成的结构，即如图1所示的结构)，即阴影部分，从而会对形成的图像带来影响。更重要的是，传统的所述平面探测器模块10的拼接，会使得各像素的信号不是等角采集，引起图像分辨率变差。如果只是线阵列的拼接，影响的只是射线非垂直入射的一列的所述像素。当所述像素是面阵列时，例如高速成像的CT(电子计算机断层扫描仪)系统或多排阵列的扫描系统，此时受到影响的就是多排的像素，对图像带来的影响将会更大。