[发明专利]一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201811586272.9 | 申请日： | 2018-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN109829886A | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 林斌;汪婷 | 申请（专利权）人： | 苏州江奥光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T3/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林;范青青 |
| 地址： | 215316 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 标准图像 待测图像 深度图像 深度信息 标准PCB板 二值图像 缺陷检测 深度数据 图像差分运算 光照条件 三维扫描 图像配准 数据处理 数据量 误检率 线激光 检测 配准 三维 采集 | ||
1.一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
分别采集待检测PCB板、标准PCB板的深度数据；
根据两PCB板的深度数据，分别生成相应的深度图像；
根据标准PCB板的深度图像获取标准图像，根据待检测PCB板的深度图像获取待测图像；
将标准图像与待测图像进行图像配准；
对配准后的标准图像与待测图像进行图像差分运算，获取二值图像；
根据二值图像确定PCB板缺陷。
2.根据权利要求1所述的一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于：所述深度图像的生成方法包括：
将所述深度数据归一化至0～255之间。
3.根据权利要求1所述的一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于：所述图像配准的方法包括：
采用霍夫变换法分别检测标准图像和待测图像的圆Mark及圆心；
通过坐标旋转平移，实现图像配准。
4.根据权利要求1所述的一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于：所述二值图像的获取方法包括：
将标准图像和待测图像的差值与预设阈值做比较，将小于预设阈值的像素点置0，其余像素点置1，从而得到差分后的二值图像。
5.根据权利要求4所述的一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于：所述差值的计算方法包括：
将标准图像的像素值减待测图像对应点的像素值或将待测图像的像素值减标准图像对应点的像素值。
6.根据权利要求1所述的一种基于深度信息的PCB板缺陷检测方法，其特征在于：所述PCB板缺陷确定方法包括：
对所述二值图像进行腐蚀操作，腐蚀后图像中的白色区域即为缺陷。
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