[发明专利]一种金属挤压密封漏率检测装置及方法有效
申请号: | 201811544465.8 | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN109655212B | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 孙亮;付朝晖;魏志斌;王春勇;纪明;李海志;马聪;严斌 | 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
主分类号: | G01M3/20 | 分类号: | G01M3/20 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 李爱英;郭德忠 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属 挤压 密封 检测 装置 方法 | ||
本发明提出了一种金属挤压密封漏率检测装置及方法,能够实现在真空环境下对金属挤压密封的漏率检测。本发明通过设计一种金属挤压密封漏率检测装置,可以在模拟月球表面高真空环境的情况下,方便、高效、精确的实现检漏,解决了传统检漏方式不适用于模拟月表环境检漏的问题,提高了检漏的有效性和精度,减少测量误差和环境对漏率值的影响。
技术领域
本发明属于漏率检测技术领域,尤其涉及一种金属挤压密封漏率检测装置及方法。
背景技术
在月球样品密封结构的泄露分析和地面试验中,现有的金属挤压密封漏率检测技术中常利用刀口挤压铟银合金密封检漏试验台,采用氦质谱检漏法,现有这种装置的不足之处在于,采用手动拧动工装和塞尺手动测量间隙,测量误差较大;设备裸露在大气中,不能有效模拟月表高真空环境。
因此,需要设计一种可以有效模拟月表高真空环境的金属挤压密封漏率检测装置,以减少测量误差和环境对漏率值的影响,获得最佳密封漏率条件下的密封结构参数、挤压力和挤压位移参数。
发明内容
有鉴于此,本发明提出了一种金属挤压密封漏率检测装置及方法,能够实现在真空环境下对金属挤压密封的漏率检测。
为实现上述目的,本发明的金属挤压密封漏率检测装置,包括检漏罩、密封试验件、真空规管A、真空规管B加载单元、插板阀、挡板阀、分子泵、干泵、阀门a、氦质谱检漏仪、阀门b、第一氦气瓶、阀门c和第二氦气瓶;
其中,检漏罩中设有试验件安装台板,密封试验件安装在试验件安装台板上;
真空规管A用于检测检漏罩内真空度,真空规管B用于检测密封试验件内真空度;加载单元伸入检漏罩内部,对密封试验件进行挤压加载;
分子泵一端通过设置有插板阀的管路与检漏罩连接,通过设置有挡板阀的管路与密封试验件连接,另一端与干泵连接;
氦质谱检漏仪通过设置有阀门a的管路与干泵连接;
第一氦气瓶通过设置有阀门b的管路与密封试验件连接;第二氦气瓶通过设置有阀门c的管路与检漏罩连接。
本发明还提供了采用上述金属挤压密封漏率检测装置的金属挤压密封漏率检测方法,包括如下步骤:
步骤1,打开检漏罩,将密封试验件固定在检漏罩的试验平台上,所有阀门处于关闭状态;
步骤2,关闭检漏罩,打开加载单元对密封试验件进行挤压加载,使得密封试验件的密封容器刀口刃入密封盖体软金属达到设定深度;
步骤3,启动真空规管A和真空规管B,打开插板阀和挡板阀,启动干泵,开始抽气;当检漏罩或密封试验件内部压力真空度≤10Pa时,启动分子泵进一步抽真空,直至检漏罩和密封试验件内部真空度达到设定值A1;
步骤4,对于正压真空检漏:关闭挡板阀,打开阀门a,启动氦质谱检漏仪将检漏罩容器内部抽至本底A2;
对于负压真空检漏:关闭插板阀,打开阀门a,启动氦质谱检漏仪将密封试验件金属挤压形成的刀口密封腔体抽至本底A2;
步骤5,对于正压真空检漏:打开阀门b,使用第一氦气瓶向密封试验件内部充设定量的氦气;然后关闭阀门b;
对于负压真空检漏:打开阀门c,使用第二氦气瓶向检漏罩内部充设定量的氦气;然后关闭阀门c;
步骤6,用氦质谱检漏仪测量密封试验件引入的氦气信号,读取金属挤压密封的漏率。
其中,所述设定深度为0.5mm。
其中,所述高真空环境A1为1×10-5Pa。
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