[发明专利]天线产品的自动测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种天线产品的自动测试系统，包括数据采集单元、信号放大单元、测试点选择单元、微控制器及供电单元，所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。通过先对所述待测探针检测，然后再对产品检测，可靠性高、生产成本低、适用性强，一方面可以检测探针本身有无问题，另一方面可检测探针有无插接到位，测试方便，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种天线产品的自动测试系统。

背景技术

目前，在工业自动化检测中，对3C产品的电性能测量，大多以探针作为中转介质，例如：FCT、ICT、OQC以及IQC等测试站位。大面积的使用探针，会存在一个测量隐患：对应点的探针有没有？该点探针有没有扎到对应测试点？于是，每次测量中加入探针有无扎到测试点的检测很有必要。

现有做法通常是采用点检板，进行定期的检查。这种做法一方面无法确保每次测量探针都扎到对应点，测试精度无法保证；另一方面，点检板的保存，也需要一定成本，给使用带来不便。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种天线产品的自动测试系统，其能解决使用不便的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种天线产品的自动测试系统，包括数据采集单元、信号放大单元、测试点选择单元、微控制器及供电单元，所述数据采集单元分别与所述信号放大单元和待测探针连接，所述数据采集单元采集所述待测探针的信号并传输至所述信号放大单元，所述测试点选择单元与所述待测探针连接并选择所述待测探针的测试点，所述数据采集单元及所述测试点选择单元与所述微控制器通信，所述待测探针插接于待测产品，所述测试点选择单元选择所述待测探针中任意两个的测试点并检测。

进一步地，所述待测产品设置有芯片引脚结构，所述芯片引脚结构包括输入引脚和输出引脚，所述输入引脚包括二极管，所述二极管设置有VCC端和GND端，所述待测探针通过通过测量VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否插入。

进一步地，所述信号放大单元包括滤波模块及放大器模块，所述滤波模块与所述放大器模块连接，所述滤波模块与所述数据采集单元连接。

进一步地，所述滤波模块为低通滤波器，所述放大器模块为仪表放大器。

进一步地，所述天线产品的自动测试系统还包括数据转换单元，所述数据转换单元分别与所述放大器模块和所述微控制器通信。

进一步地，所述数据转换单元包括至少一个A/D转换器模块，所述A/D转换器模块的输入端与所述放大器模块的输出端相连接，所述放大器模块和所述微控制器通信。

进一步地，所述天线产品的自动测试系统还包括供电单元，所述供电单元分别与数据采集单元、信号放大单元、微控制器及数据转换单元连接。

进一步地，所述供电单元包括电压调节模块及恒流模块，所述电压调节模块用于调节电压，所述恒流模块用于调节电流。

进一步地，所述天线产品的自动测试系统还包括通信单元及控制终端，所述通信单元分别与所述控制终端和所述微控制器连接。

一种利用权利要求1所述的天线产品的自动测试系统的测试方法，包括以下步骤：连接步骤，将待测探针与待测产品连接，通过测试点选择单元选择待测探针的任意两个测试点；探针测试步骤，测量待测探针的任意两个测试点的VCC端和GND端两点的阻抗来判定测试点是否插入到位；产品测试步骤，检测待测探针任意两个测试点直至判定待测探针没有问题，通过待测探针对待测产品进行测试。