[发明专利]放射自显影装置

说明书

本申请实施例公开了一种放射自显影装置，该放射自显影装置包括：探测单元，其包括闪烁晶体阵列和与所述闪烁晶体阵列耦合的光电转换器阵列，其中，所述闪烁晶体阵列用于接收从目标样品发出的放射性射线并产生对应的光信号，所述光电转换器阵列用于将所述光信号转换为电信号；信号处理单元，其用于对所述光电转换器阵列产生的电信号进行处理；图像投影单元，其用于根据所述信号处理单元的信号处理结果进行图像投影以得到所述目标样品的图像。通过利用本申请实施例提供的放射自显影装置，可以扩大动态探测范围、减少成像时间、提高空间分辨率和成像质量。

技术领域

本申请涉及放射自显影成像领域，特别涉及一种放射自显影装置。

背景技术

本部分的描述仅提供与本申请公开相关的背景信息，而不构成现有技术。

放射自显影(autoradiography，简称AR)是一种常用于对样品中的放射性示踪剂进行定位和定量研究的成像技术，其可以用于对样品中的放射性示踪剂的分布和动态变化进行追踪。

目前，现有的放射自显影仪器主要包括以下几种：

(1)传统的使用相机胶片的放射自显影仪器，该放射自显影仪器主要检测α电子衰变和β电子衰变，并且在操作时通常需要进行制备自显影标本(包括注入放射性示踪剂)、曝光、显影以及定影等多种处理，需要手动操作且操作繁琐，定量不准，成像时间较长，往往长达数天甚至数月，并且无法重复使用。

(2)使用塑料晶体和电荷耦合器件(CCD)的放射自显影仪器，该放射自显影仪器主要使用β电子的放射性同位素核素(例如，¹⁴C、³⁵S、³²P等)等来作为放射性示踪剂，其空间分辨率可达到数十微米，但该放射自显影仪器的动态探测范围较小，灵敏度较低，无法对能量超过30keV的γ射线进行检测，其不适用于对具有较高能量的γ射线进行探测，并且成本较高。

(3)使用荧光磷屏技术的放射自显影仪器，该放射自显影仪器主要进行β电子和低能量段(例如，511keV以下)的γ光子探测，其操作过程主要如下：首先，利用注入了放射性示踪剂的样品对由磷光体和涂层组成的成像板进行曝光，在曝光之后用不透明的塑料片覆盖成像板，然后将其转移到扫描仪上并用聚焦的激光束(波长为400～650nm)来照射成像板，成像板发出对应的光信号(波长为300～400nm)，并对成像板发出的光信号转换为电信号并数字化，然后利用计算机来进行成像。然而，由于激励用的激光束与成像板发出的光信号的波长不同，所以二者之间会存在一定的干扰，这导致成像的空间分辨率较低、灵敏度也较低。另外，该放射自显影仪器也不适用于对具有较高能量(例如，高于511keV)的γ射线进行探测。此外，该放射自显影仪器所使用的成像板在第一次使用后需要进行高温清洗才能进行第二次使用，这可能会导致成像质量下降，从而影响其成像性能。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种放射自显影装置，以解决上述至少一个问题。

为了实现上述目的，本申请实施例提供了一种放射自显影装置，其包括：

探测单元，其包括闪烁晶体阵列和与所述闪烁晶体阵列耦合的光电转换器阵列，其中，所述闪烁晶体阵列用于接收从目标样品发出的放射性射线并产生对应的光信号，所述光电转换器阵列用于将所述光信号转换为电信号；

信号处理单元，其用于对所述光电转换器阵列产生的电信号进行处理；

图像投影单元，其用于根据所述信号处理单元的信号处理结果进行图像投影以得到所述目标样品的图像，其中，所述信号处理结果包括电信号的时间信息、能量信息以及闪烁晶体阵列中的闪烁晶体的位置信息。

优选地，当所述闪烁晶体阵列包括多个闪烁晶体时，每两个所述闪烁晶体之间的间隙为0.04mm～0.2mm，并且所述闪烁晶体阵列的总厚度小于400mm。