[发明专利]存储器模块、存储器系统和操作存储器模块的方法在审

专利信息
申请号: 201811250027.0 申请日: 2018-10-25
公开(公告)号: CN109920456A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 金旺洙;崔桢焕;朴基悳;成侑昶;尹珍盛;李昶敎;田周鄠;许珍锡 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 张川绪;姜长星
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 半导体存储器装置 存储器控制器 存储器模块 操作存储器 存储器系统 训练操作 训练信息 接收接口电路 均衡系数 训练模式 训练状态 均衡器 模块板 配置 搜索 关联 响应
【权利要求书】:

1.一种存储器模块,包括:

多个半导体存储器装置,与同一模块板相关联,所述多个半导体存储器装置中的每个半导体存储器装置包括包含多个动态存储器单元的存储器单元阵列,所述多个半导体存储器装置被配置为同时执行训练操作,所述多个半导体存储器装置中的每个半导体存储器装置包括接收接口电路,接收接口电路被配置为:

基于来自存储器控制器的训练模式,执行所述训练操作来搜索均衡器的选择的均衡系数,

响应于来自存储器控制器的训练命令,在训练状态下将训练信息信号发送到存储器控制器,训练信息信号包括选择的均衡系数。

2.根据权利要求1所述的存储器模块,其中,所述多个半导体存储器装置被配置为:以所述多个半导体存储器装置的排为单元同时执行所述训练操作。

3.根据权利要求1所述的存储器模块,其中,接收接口电路包括:

均衡器,被配置为:在训练状态下通过基于控制均衡系数对训练模式进行均衡来生成均衡器输出模式;

自训练电路,被配置为:向均衡器提供控制均衡系数,自训练电路被配置为:

生成指示均衡器输出模式与参考模式之间的差的错误计数值,

基于错误计数值和参考值自适应地调节搜索均衡系数以向均衡器提供控制均衡系数,其中,

均衡器利用搜索均衡系数来搜索选择的均衡系数。

4.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,均衡器包括连续时间线性均衡器、前馈均衡器和判决反馈均衡器中的至少一个。

5.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,均衡器包括前馈均衡器和连接到前馈均衡器的判决反馈均衡器。

6.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,自训练电路被配置为:

将参考模式存储在与自训练电路相关联的寄存器中,

基于均衡器输出模式和参考模式生成比较信号,

响应于比较信号输出错误计数值。

7.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,自训练电路被配置为:

响应于训练模式,经由复制路径输出参考模式,复制路径复制提供均衡器输出模式的路径,同时复制路径不受外部影响,

基于均衡器输出模式和参考模式生成比较信号,

响应于比较信号输出错误计数值。

8.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,自训练电路被配置为:

基于错误计数值和参考值输出自适应系数控制信号,

响应于自适应系数控制信号,向均衡器提供搜索均衡系数作为控制均衡系数,使得自适应系数控制信号命令与自训练电路相关联的控制器减小错误计数值与参考值之间的差,

响应于错误计数值与参考值之间的差减小到阈值,输出搜索到的均衡系数作为选择的均衡系数。

9.根据权利要求8所述的存储器模块,其中,控制器被配置为:当自适应系数控制信号指示错误计数值与参考值之间的差减小到阈值时,输出包括通过/失败位和存储器标识符位的标志信号,其中,通过/失败位指示针对所述多个半导体存储器装置中的对应的一个半导体存储器装置,所述训练操作是否成功,存储器标识符位指示所述多个半导体存储器装置中的所述对应的一个半导体存储器装置。

10.根据权利要求8所述的存储器模块,其中,自训练电路被配置为:使用迫零算法、最小均方算法和递归最小二乘算法中的一个来减小错误计数值与参考值之间的差。

11.根据权利要求3所述的存储器模块,其中,接收接口电路还包括:多路分解器,被配置为,

在训练状态下,向自训练电路提供来自均衡器的均衡器输出模式,

在正常状态下,响应于从存储器控制器接收到的数据,向内部电路提供均衡器的输出,其中,

所述存储器模块响应于状态信号而在训练状态与正常状态之间切换。

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