[发明专利]可编程存储器的制备方法有效
| 申请号: | 201811117241.9 | 申请日: | 2018-09-25 |
| 公开(公告)号: | CN109686703B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
| 发明(设计)人: | 彭泽忠 | 申请(专利权)人: | 成都皮兆永存科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/8239 | 分类号: | H01L21/8239 |
| 代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 可编程 存储器 制备 方法 | ||
1.可编程存储器的制备方法,其特征在于,包括下述步骤:
1)形成基础结构体的步骤:以导电介质层和绝缘介质层交错重叠的方式,设置预定层数的导电介质层和绝缘介质层,形成基础结构体;
2)在基础结构体上形成指叉结构的步骤:通过设置贯穿基础结构体顶层到底层的分割结构,将基础结构体分为两个交错的指叉结构,所述指叉结构包括至少两个指条和一个公共连接条,同一指叉结构中的各指条皆与该指叉结构中的公共连接条相接;所述分割结构包括柱形孔阵列和填充有绝缘材料的隔离槽;相邻两个指条之间的区域称为指间区域,处于同一指间区域的柱形孔为同行的柱形孔;在同行且相邻的两柱形孔的中心点之间设置隔离孔,隔离孔侵入与其相邻的两柱形孔,且隔离孔的边缘位于相邻两柱形孔的中心点之间;然后在隔离孔中填充绝缘材料;
3)形成柱形存储单元的步骤:按照预设的存储器的结构,在柱形孔内壁逐层设置所需的各中间层介质材料,最后在柱形孔内填充核心介质材料,形成核心介质材料层。
2.如权利要求1所述的可编程存储器的制备方法,其特征在于,
所述步骤3)中,预设的存储器为:PN结型半导体存储器、肖特基二极管型存储器或记忆介质存储器;
所述记忆介质存储器为阻变存储器、磁变存储器、相变存储器或铁电存储器。
3.如权利要求1所述的可编程存储器的制备方法,其特征在于,所述步骤2)中,各柱形孔相互分离。
4.如权利要求1所述的可编程存储器的制备方法,其特征在于,所述步骤2)包括:
2a.通过设置贯穿基础结构体顶层到底层的隔离槽,将基础结构体分为两个交错的指叉结构,所述指叉结构包括至少两个指条和一个公共连接条,同一指叉结构中的各指条皆与该指叉结构中的公共连接条相接;
2b.在隔离槽中填充绝缘材料;
2c.在隔离槽处钻孔,形成贯穿基础结构体顶层到底层的柱形孔,所述柱形孔侵入其两侧的指叉结构中的各层导电介质层和各层绝缘介质层。
5.如权利要求4所述的可编程存储器的制备方法,其特征在于,所述步骤2)中,在柱形孔阵列中,同一行且相邻的柱形孔相互侵入,侵入方的最近边缘处于侵入方中心点与被侵入方中心点之间,所述最近边缘为最靠近被侵入方中心点的边缘。
6.如权利要求1所述的可编程存储器的制备方法,其特征在于,各步骤顺序为:
A)形成基础结构体的步骤:以导电介质层和绝缘介质层交错重叠的方式,设置预定层数的导电介质层和绝缘介质层,形成基础结构体;
B)在基础结构体上形成指叉结构的步骤:
B1.通过设置贯穿基础结构体顶层到底层的隔离槽,将基础结构体分为两个交错的指叉结构,所述指叉结构包括至少两个指条和一个公共连接条,同一指叉结构中的各指条皆与该指叉结构中的公共连接条相接;
B2.在隔离槽中填充绝缘介质;
B3.在隔离槽处形成贯穿基础结构体顶层到底层的孔,形成柱形孔阵列;相邻两个指条之间的区域称为指间区域,处于同一指间区域的柱形孔为同行的柱形孔;
C)形成柱形存储单元的步骤:按照预设的存储器的结构,在柱形孔内壁逐层设置所需的各中间层介质材料,最后在柱形孔内填充核心介质材料,形成核心介质材料层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都皮兆永存科技有限公司,未经成都皮兆永存科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811117241.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





