[发明专利]抛光处理晶体硅片表面技术在太阳电池制备中的应用在审
申请号: | 201811112015.1 | 申请日: | 2018-09-25 |
公开(公告)号: | CN109273559A | 公开(公告)日: | 2019-01-25 |
发明(设计)人: | 黄海宾;周浪;孙喜莲 | 申请(专利权)人: | 南昌大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236 |
代理公司: | 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
地址: | 330031 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 表面技术 传输损耗 晶体硅片 抛光处理 抛光 刻蚀 制绒 制备 载流子 多晶硅太阳电池 单晶硅 短路电流 发射极层 复合损耗 工艺控制 硅片表面 化学试剂 降低生产 开路电压 清洗制绒 填充因子 微观裂纹 系统串联 系统连接 制备过程 转换效率 均匀性 破片率 电阻 焊带 隐裂 应用 阻碍 生产 | ||
1.抛光处理晶体硅片表面技术在太阳电池制备中的应用,其特征是在单晶硅或多晶硅太阳电池制备过程中,将清洗制绒工序中的制绒步骤改用抛光。
2.根据权利要求1所述的抛光处理晶体硅片表面技术在太阳电池制备中的应用,其特征是包括以下步骤:
(1)用氨水与双氧水的混合溶液或其它预清洗剂对硅片表面进行预清洗;
(2)采用加热的高浓度的氢氧化钠溶液刻蚀硅片表面,去除硅片表面损伤层;
(3)根据晶体硅太阳电池制结对硅片表面平整度和洁净度的要求,选择高浓度的有机碱、氢氧化钠或氢氟酸和硝酸混合液对硅片表面抛光;
(4)再采用盐酸与双氧水的混合溶液或盐酸与氢氟酸的混合溶液对硅片表面进行清洗;
(5)采用含氢氟酸的溶液去除硅片表面氧化层,然后烘干硅片表面。
3.根据权利要求1所述的抛光处理晶体硅片表面技术在太阳电池制备中的应用,其特征是所述步骤(1)所述的其它预清洗剂为臭氧与氢氧化钾的混合溶液,乙醇的水溶液。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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