[发明专利]LED芯片支架故障自动检测方法和装置

说明书

本申请公开了一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置。其中，该方法包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别。本申请解决了现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。

技术领域

本申请涉及产品检测领域，具体而言，涉及一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置。

背景技术

为了提高产品质量，在将LED芯片封装成灯珠之前，制造商通常都需要对LED芯片支架进行严格筛选，剔除有严重缺陷，如表面沾污、断线和有多余连接的LED芯片支架。

传统对LED芯片支架的筛选过程是将其放在显微镜下通过人眼进行识别并剔除肉眼可见的明显不合格产品，需要耗费大量的人力成本并且无法保证筛选质量的稳定，严重影响企业的工作效率和经济利益。

针对上述现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置，以至少解决现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。

根据本申请实施例的一个方面，提供了一种LED芯片支架故障自动检测方法，包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别。

根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种LED芯片支架故障自动检测装置，包括：采集器，用于获取待检测LED芯片支架的图片；打分器，用于对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别。

根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，程序执行上述的LED芯片支架故障自动检测方法。

根据本申请实施例的另一方面，还提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述的LED芯片支架故障自动检测方法。

在本申请实施例中，采用人工智能的方式，通过获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别，达到了自动化、智能化地筛选出品质满足要求的LED芯片支架的目的，从而实现了降低成本、提高工作效率的技术效果，进而解决了现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请实施例的一种LED芯片支架故障自动检测方法流程图；

图2是根据本申请实施例的一种可选的打分器示意图；

图3是根据本申请实施例的一种可选的自编码器对待检测LED芯片支架进行编码的示意图；

图4是根据本申请实施例的一种可选的将LED芯片支架的微距成像图片输入自编码器后得到其压缩表示的示意图；

图5是根据本申请实施例的一种可选的自编码器对无故障LED芯片支架进行编码的示意图；