[发明专利]在机床中将中心点定位在几何轴线上的方法有效

专利信息
申请号: 201811058163.X 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109483326B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 史蒂芬·格罗斯曼;史蒂芬·施蒂夫特尔;马库斯·海涅尔特 申请(专利权)人: 哈恩和特斯基工件指数有限商业两合公司
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 北京博华智恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11431 代理人: 樊卫民;蔡民军
地址: 德国埃*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 机床 中将 中心点 定位 几何 轴线 方法
【权利要求书】:

1.一种将机床(10)的第二机床单元(46)的中心点(M)定位在机床(10)的第一机床单元(14)的几何轴线(24)上的方法,其中第二机床单元(46)具有能与该中心点(M)同心扫描且位于圆柱体表面(48)上的圆轨迹(K),并且其中第一机床单元(14)具有围绕与所述几何轴线(24)重合的旋转轴线旋转的部件(26),

其特征在于,在第一机床单元(14)上相对于几何轴线(24)确定地布置测量单元(64),并且通过该测量单元(64)通过下述方式求得圆轨迹(K)在通过圆轨迹(K)确定的几何平面(KE)中相对于几何轴线(24)的位置,即利用所述测量单元(64)通过求得三个以相互间确定的角距位于圆轨迹(K)上的测量点(P1,P2,P3)相对于几何轴线(24)的位置确定圆轨迹(K)的位置,以所述测量点(P1,P2,P3)的位置和所述圆轨迹(K)的已知的半径(r)为基础经计算地求得该圆轨迹(K)的中心点(M)在几何平面(KE)中相对于几何轴线(24)的位置和相对于穿过几何轴线(24)延伸的基准方向(E1,V)的位置,并且在考虑到机床单元(14,46)彼此间的与机床有关的相对调整方向(X,Y)的条件下经计算地确定在几何平面(KE)中附属于该调整方向(X,Y)的调整行程(dx,dy),以使所述中心点(M)定位在几何轴线(24)上,并且对应于这些调整行程(dx,dy)所述机床单元(14,46)彼此间相对运动。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,通过围绕几何轴线(24)旋转测量单元(64)确定三个测量点(P1,P2,P3)在对应于各自的测量点(P1,P2,P3)且径向于几何轴线(24)延伸的测量方向(MR1,MR2,MR3)上的位置,并且在各自的测量方向(MR1,MR2,MR3)上利用测量单元(64)求得各自测量点(P1,P2,P3)的位置。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,各个测量点(P1,P2,P3)的位置通过测量所述各个测量点与环绕几何轴线(24)的基准圆轨迹(RK)在径向于几何轴线(24)的方向上的距离来确定。

4.如上述权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,这样选择所述的三个测量点(P1,P2,P3),使它们位于围绕几何轴线(24)的180°的角度范围内。

5.如上述权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,这样选择所述的三个测量点,使得在第一测量点(P1)与第二测量点(P2)之间以及在第二测量点(P2)与第三测量点(P3)之间均有90°的角度范围。

6.如上述权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,通过将三个测量点(P1,P2,P3)中的一个测量点的位置布置在径向于几何轴线(24)延伸的且平行于调整方向(X,Y)的几何测量方向(MR1,MR2)上实现机床侧的调整方向(X,Y)的检测。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,在穿过几何轴线(24)延伸的且平行于一个调整方向(X,Y)的几何测量方向(MR1,MR2)上布置三个测量点(P1,P2,P3)的第一测量点。

8.如上述权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,通过首先求得第二机床单元(46)的中心点(M)在第一检测位置中的位置、接着两个机床单元(14,46)沿着所选择的一个调整方向(X,Y)朝向第二检测位置中相对运动并在第二检测位置中再次求得第二机床单元(46)的中心点(M’)的位置实现机床侧的一个调整方向(X,Y)的检测,并且通过求得在两个中心点(M,M’)之间的连接线(V)在第一和第二检测位置中的取向确定所选择的调整方向(X,Y)的位置和走向。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,在第一检测位置和在第二检测位置中的测量方向是一致的,在该测量方向上求得测量点(P1,P2,P3)的位置。

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