[发明专利]基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统

权利要求书

1.一种基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统，其特征在于，包括：出射光源(1)、准直镜(2)、接收反射镜(3)、主发射接收透镜(4)、小孔光阑(7)、滤波片(5)和光探测器(6)；其中，所述接收反射镜(3)倾斜45°放置，且所述接收反射镜(3)上设有透射区域(31)和反射区域(32)；

所述出射光源(1)、所述准直镜(2)、所述小孔光阑(7)、所述接收反射镜(3)和所述主发射接收透镜(4)同轴设置；

所述出射光源(1)发出的出射光依次经过所述准直镜(2)和所述小孔光阑(7)照射至所述透射区域(31)，所述透射区域(31)将出射光透射至所述主发射接收透镜(4)上，所述主发射接收透镜(4)将出射光照射至天空云体；

出射光照射到云体发生米散射，所述主发射接收透镜(4)接收由云体反射回来的回波信号，所述回波信号通过所述反射区域(32)反射至所述滤波片(5)进行滤波处理，并入射至所述光探测器(6)。

2.根据权利要求1所述的基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统，其特征在于，还包括：主控单元(8)，所述主控单元(8)与所述光探测器(6)以及所述出射光源(1)相连。

3.根据权利要求1所述的基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统，其特征在于，所述出射光源(1)包括：波长为905nm的脉冲激光器。

4.根据权利要求1所述的基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统，其特征在于，所述光探测器(6)包括：雪崩光电二极管。

5.根据权利要求1所述的基于微脉冲激光雷达测量云高的同轴光学系统，其特征在于，所述滤波片(5)包括：905nm窄带滤光片。