[发明专利]一种光电跟踪系统的复合轴控制方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810975138.1 申请日: 2018-08-24
公开(公告)号: CN108919841B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 佘君 申请(专利权)人: 湖北三江航天红峰控制有限公司
主分类号: G05D3/12 分类号: G05D3/12
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 李佑宏
地址: 432000*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 跟踪 系统 复合 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种光电跟踪系统的复合轴控制方法,其特征在于,包括

S1搜索并接收目标初始方位,控制转台进入目标区域;

S2对搜索获得的信息进行处理,检测目标并识别确认目标,获取粗跟踪信息;

S3根据粗跟踪信息对目标进行追踪,处理目标跟踪结果,获取转台控制信号,控制转台工作,获取精跟踪信息和第一校正值;

S4根据精跟踪信息锁定目标对其进行跟踪,处理目标跟踪结果,获取快反镜控制信号,驱动快反镜运行,并获取第二校正值;

S5根据第一校正值和第二校正值对大视场范围下运动物体的跟踪信息进行校正;

所述步骤S4包括,

S41根据精跟踪信息都对目标进行跟踪,获取初始精跟踪信息;

S42对初始精跟踪信息进行转换和/或处理,获取快反镜控制信号和/或第二校正值;

S43利用快反镜控制信号控制快反镜的转动,输出第二校正值。

2.根据权利要求1所述的一种光电跟踪系统的复合轴控制方法,其中,所述步骤S3包括,

S31根据粗跟踪信息对目标进行跟踪,获取初始粗跟踪信息;

S32对初始粗跟踪信息进行转换和/或处理,获取转台控制信号和/或第一校正值;

S33利用转台控制信号控制转台运动,输出第一校正值。

3.根据权利要求2所述的一种光电跟踪系统的复合轴控制方法,其中,所述步骤S32中采用滤波的方式对初始粗跟踪信息进行校正。

4.根据权利要求2所述的一种光电跟踪系统的复合轴控制方法,其中,所述初始粗跟踪信息选用粗跟踪成像传感器视轴与运动目标之间的角偏差。

5.一种光电跟踪系统的复合轴控制结构,其特征在于,包括粗轴和细轴,所述粗轴包括依次连接的粗跟踪成像传感器、第一信号转换器和转台,所述细轴包括依次连接的精跟踪成像传感器、第二信号转换器和快反镜;所述粗跟踪成像传感器和精跟踪成像传感器与外部信号输入端相连接;所述快反镜和转台与复合轴控制结构的输出端相连接;且所述转台的输出端与外部信号输入端相连接;

信号依次经过外部信号输出端、粗跟踪成像传感器、第一信号转换器和转台后输出第一校正值,转台将所述第一校正值反馈至精跟踪成像传感器的输入端,依次经过精跟踪成像传感器、第二信号转换器和快反镜后输出第二校正值,根据所述第一校正值和第二校正值获取大视场范围下运动物体的精确跟踪信息。

6.根据权利要求5所述的一种光电跟踪系统的复合轴控制结构,其中,所述粗跟踪成像传感器与第一信号转换器之间还设有粗跟踪控制器;所述精跟踪成像传感器与第二信号转换器之间还设有精跟踪控制器。

7.一种光电跟踪系统的复合轴控制系统,其特征在于,包括

搜索模块,用于搜索并接收目标初始方位,控制转台进入目标区域;

信息处理模块,用于对搜索获得的信息进行处理,检测目标并识别确认目标,获取粗跟踪信息;

粗跟踪模块,用于根据粗跟踪信息对目标进行追踪,处理目标跟踪结果,获取转台控制信号,控制转台工作,获取精跟踪信息和第一校正值;

精跟踪模块,用于根据精跟踪信息锁定目标对其进行跟踪,处理目标跟踪结果,获取快反镜控制信号,驱动快反镜运行,并获取第二校正值;

跟踪值校正模块,用于根据第一校正值和第二校正值对大视场范围下运动物体的跟踪信息进行校正;

其中,所述精跟踪模块包括,

精跟踪成像模块,用于根据精跟踪信息都对目标进行跟踪,获取初始精跟踪信息;

第二信号转换模块,用于对初始精跟踪信息进行转换和/或处理,获取快反镜控制信号和/或第二校正值;

精跟踪控制模块,用于利用快反镜控制信号控制快反镜的转动,输出第二校正值。

8.根据权利要求7所述的一种光电跟踪系统的复合轴控制系统,其中,所述粗跟踪模块包括,

粗跟踪成像模块,用于根据粗跟踪信息对目标进行跟踪,获取初始粗跟踪信息;

第一信号转换模块,用于对初始粗跟踪信息进行转换和/或处理,获取转台控制信号和/或第一校正值;

粗跟踪控制模块,用于利用转台控制信号控制转台运动,输出第一校正值。

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