[发明专利]键盘检测方法及其系统

权利要求书

1.一种键盘检测方法，其特征在于，所述键盘检测方法包括：

获得一待测键盘的一待测影像；

对该待测影像进行一定位影像处理程序，而得到该待测影像中多个待测按键位置；

根据所述多个待测按键位置，对该待测影像中位在所述多个待测按键位置上的多个待测部位进行一清晰化影像处理程序，而得到多个待测按键影像；以及

进行一比对程序，以判断所述多个待测按键影像是否符合一标准键盘的多个标准按键影像。

2.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该定位影像处理程序包括：

对该待测影像进行影像处理而得到一按键轮廓图，其特征在于，该按键轮廓图包括多个按键轮廓，所述多个按键轮廓沿着一第一方向排列成多排；

统计所述多个按键轮廓在该第一方向上的像素累积量，以界定出所述多个按键轮廓在一第二方向上所排列成的位置；以及

辨识各该排的所述多个按键轮廓中，各该按键轮廓在该第一方向上的位置。

3.如权利要求2所述的键盘检测方法，其特征在于，依据所述多个按键轮廓在该第一方向上的像素累积量，判断出各该排的所述多个按键轮廓在该第二方向上的一上边界与一下边界，且辨识在各该排的所述多个按键轮廓的该上边界与该下边界之间的像素量，以判断出各该排的各该按键轮廓的一左边界与一右边界。

4.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该清晰化影像处理程序包括：

对所述多个待测部位进行一灰阶化处理；以及

对所述多个待测部位进行一第一自适应二值化处理。

5.如权利要求4所述的键盘检测方法，其特征在于，在该第一自适应二值化处理之后，该清晰化影像处理程序还包括：

对所述多个待测部位进行模糊化处理；以及

对所述多个待测部位进行一第二自适应二值化处理。

6.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该清晰化影像处理程序还包括：

进行滤波处理，以去除噪声。

7.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序之前，包括：

输入该待测键盘的一料号，以载入该料号所对应的该标准键盘的所述多个标准按键影像。

8.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序中，包括：

比对所述多个待测按键影像的轮廓图样是否符合该标准键盘的多个标准按键影像的轮廓图样。

9.如权利要求8所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序中，还包括：

比对所述多个待测按键影像的轮廓总长是否符合该标准键盘的多个标准按键影像的轮廓总长。

10.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在获得该待测键盘的该待测影像之前，还包括：

配置该待测键盘至一定位结构，其特征在于，该定位结构包括沿着一第一方向延伸的一第一定位部及沿着一第二方向延伸的一第二定位部，该待测键盘抵靠至该第一定位部与该第二定位部；以及

获取该待测键盘的该待测影像。

11.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，所述键盘检测方法还包括：

提供一影像获取装置及电性连接至该影像获取装置的一处理器，其中该影像获取装置获取该待测键盘的该待测影像，且该处理器进行该定位影像处理程序、该清晰化影像处理程序及该比对程序。