[发明专利]形成电容掩模的方法有效
申请号: | 201810605875.2 | 申请日: | 2018-06-13 |
公开(公告)号: | CN110600429B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 张峰溢;李甫哲;林盈志;林刚毅 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L21/8239 | 分类号: | H01L21/8239;H01L21/027 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 形成 电容 方法 | ||
本发明公开一种形成电容掩模的方法,包含有下述步骤。首先,形成一块状牺牲图案以及多个长条状牺牲图案于一掩模层上。接着,形成间隙壁于块状牺牲图案以及此些长条状牺牲图案的侧壁。接续,移除此些长条状牺牲图案但保留块状牺牲图案。续之,填入一材料于此些间隙壁之间以及块状牺牲图案上,其中材料具有一平坦顶面。然后,在填入材料之后,形成一图案化光致抗蚀剂,覆盖块状牺牲图案以及此些间隙壁的一部分,但暴露出此些间隙壁的另一部分。
技术领域
本发明涉及一种形成电容掩模的方法,且特别是涉及一种以牺牲图案形成动态随机存取存储器的电容掩模的方法。
背景技术
随机存取存储器(RAM:Random Access Memory)使用时可以读取数据也可以写入数据,当电源关闭以后数据立刻消失。由于随机存取存储器的数据更改容易,所以一般应用在个人计算机作为暂时存储数据的存储器。随机存取存储器又可以细分为「动态(Dynamic)」与「静态(Static)」两种。其中,「动态随机存取存储器(DRAM:Dynamic RAM)」是以1个晶体管加上1个电容来存储1个位(1bit)的数据,而且使用时必须要周期性地补充电源来保持存储的内容,故称为「动态(Dynamic)」。动态随机存取存储器构造较简单(1个晶体管加上1个电容来存储1个位的数据)使得存取速度较慢(电容充电放电需要较长的时间),但是成本也较低,因此一般都制作成对容量要求较高但是对速度要求较低的存储器,例如:个人计算机主机板上通常使用的主存储器(main memory)。
发明内容
本发明提出一种形成电容掩模的方法,其形成牺牲图案于掩模层上方,以防止掩模层在图案化成电容掩模时受损。
本发明提供一种形成电容掩模的方法,包含有下述步骤。首先,形成一块状牺牲图案以及多个长条状牺牲图案于一掩模层上。接着,形成间隙壁于块状牺牲图案以及此些长条状牺牲图案的侧壁。接续,移除此些长条状牺牲图案但保留块状牺牲图案。续之,填入一材料于此些间隙壁之间以及块状牺牲图案上,其中材料具有一平坦顶面。然后,在填入材料之后,形成一图案化光致抗蚀剂,覆盖块状牺牲图案以及此些间隙壁的一部分,但暴露出此些间隙壁的另一部分。
基于上述,本发明提出一种形成电容掩模的方法,其在一掩模层上形成一块状牺牲图案以及多个长条状牺牲图案,形成间隙壁于块状牺牲图案以及此些长条状牺牲图案的侧壁,之后移除此些长条状牺牲图案但保留块状牺牲图案。如此一来,本发明不需要额外制作工艺,即可在蚀刻暴露出的掩模层而图案化形成掩模时,避免块状牺牲图案下方的掩模层受损。
再者,本发明在移除此些长条状牺牲图案但保留块状牺牲图案之后,填入一材料于此些间隙壁之间以及块状牺牲图案上,之后才形成一图案化光致抗蚀剂覆盖部分材料,因而可避免图案化光致抗蚀剂残留于间隙壁之间。
附图说明
图1为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图2为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图3为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图4为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图5为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图6为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图7为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图8为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图;
图9为本发明优选实施例中形成电容掩模的方法的剖面示意图。
主要元件符号说明
10、20:图案化的光致抗蚀剂
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司,未经联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810605875.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造