[发明专利]一种光线检测方法和装置、计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种光线检测方法，其特征在于，包括：

获取光线平面的屏幕投影图像，所述屏幕投影图像为一条光带；

计算光带的以下至少之一属性：长度、宽度和弧度，并将计算出的属性与预先设置的阈值进行比较，以检测所述光线平面是否合格。

2.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，所述方法之前还包括：

通过光线发射器发射线性光线至光学元件，形成所述光线平面；

将所述光线平面投影至屏幕上，形成所述光线平面的屏幕投影图像。

3.根据权利要求2所述的光线检测方法，其特征在于，所述光线为激光，所述光学元件为一字镜。

4.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，通过用摄像头拍摄所述屏幕投影图像获取所述光线平面的屏幕投影图像，所述摄像头为红外摄像头，所述红外摄像头为直接的红外摄像头或拆除红外滤光片后的可见光摄像头。

5.根据权利要求1所述的光线检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述屏幕投影图像转换为灰度图像，并将灰度图像中各个像素点的灰度值与预设的灰度阈值进行比较，得到大于或等于预设的灰度阈值的各个像素点。

6.根据权利要求5所述的光线检测方法，其特征在于，将所述光带的长度定义为：所述光带最左端到所述光带最右端跨越的大于或等于预设的灰度阈值的像素点个数；将所述光带的宽度定义为：所述光带占用的大于或等于预设的灰度阈值的像素点个数除以所述光带的长度。

7.根据权利要求5所述的光线检测方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述光带拟合成直线方程；

将所述光带的弧度定义为：以所述光带中偏离拟合出的直线最远的大于或等于预设的灰度阈值的像素点的偏移距离的平方为基础，累加所述光带上每一个X轴位置对应的大于或等于预设的灰度阈值的像素点的偏移距离的平方和。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1至7中任一项所述的光线检测方法的步骤。

9.一种光线检测装置，其特征在于，包括获取模块和比较模块，其中：

获取模块，用于获取光线平面的屏幕投影图像，所述屏幕投影图像为一条光带；

比较模块，用于计算光带的以下至少之一属性：长度、宽度和弧度，并将计算出的属性与预先设置的阈值进行比较，以检测所述光线平面是否合格。

10.根据权利要求9所述的光线检测装置，其特征在于，所述比较模块还用于：

将所述屏幕投影图像转换为灰度图像，并将灰度图像中各个像素点的灰度值与预设的灰度阈值进行比较，得到大于或等于预设的灰度阈值的各个像素点；

所述比较模块将所述光带的长度定义为：所述光带最左端到所述光带最右端跨越的大于或等于预设的灰度阈值的像素点个数；将所述光带的宽度定义为：所述光带占用的大于或等于预设的灰度阈值的像素点个数除以所述光带的长度。